布魯克Bruker（原veeco）快速AFM Fastscan

Dimension FastScan——快速掃描原子力顯微鏡

掃描速度的全新詮釋，擁有 高的掃描分辨率， 優(yōu)異的儀器檢測性能

布魯克Bruker快速原子力顯微鏡Fastscan

在不損失Dimension  Icon 超高的分辨率和儀器性能前提下， 大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。

  為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設(shè)置實驗參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像?？焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。

    高效率   

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調(diào)節(jié)    和檢測器調(diào)節(jié)，智能進針，大大縮短了實驗時間。

自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結(jié)合，大幅提高了實驗數(shù)據(jù)  的可信度和可重復(fù)性。

   高分辨率     

Fastscan 的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。

掃描速度20Hz時仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。

低噪音，溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。

在任何樣品上均有表現(xiàn)

閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實圖像。

Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描。

布魯克Bruker快速原子力顯微鏡Fastscan

將掃描速度、分辨率、 度和噪音控制完美結(jié)合的AFM，真正實現(xiàn)了快速掃描原子力顯微鏡的商業(yè)化應(yīng)用。為了實現(xiàn)AFM掃描速度變革性的提升，Bruker的工程師致力于AFM技術(shù)的改造和完善。

 采用 低熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù)，提高了系統(tǒng)的固有振動頻率。

 應(yīng)用新的NanoScope控制器，為機器提供了更高的帶寬。

 開發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝，在空氣中共振頻率為1.3MHz，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。

 采用了低噪音的機械和電子的主要部件，結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術(shù)上獲得了重大突破。

 更高的帶寬提供了 的力控制和高掃描速度，結(jié)合高精度的閉環(huán)控制，在效率上遠遠高于其它任何商業(yè)化的AFM。

 以20Hz掃描速度進行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。

 在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。

 Z方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，同時在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了快速掃描AFM。

自動的激光和檢測器的調(diào)節(jié)使得實驗的組建更為快速有效。

系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級的樣品特征。

 新的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到 好的激光信號調(diào)節(jié)。

針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計與210mm大尺寸樣品臺結(jié)合，消除了樣品尺寸的限制，同時維持了 低的噪音和熱漂移水平。

布魯克Bruker快速原子力顯微鏡Fastscan

  Dimension FastScan AFM的分辨率，與Bruker*的電子掃描計算方法相結(jié)合，提供給用戶顯著提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是針尖掃描技術(shù)的 新革新，配置了溫度補償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質(zhì)量，實現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的 度。這種革新與新的 掃描和下針算法相結(jié)合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。

杰出的生產(chǎn)力

  使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個標志性的符號。FastScan把此平臺引入了新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往 *的AFM技術(shù)更加簡便?？梢允钩鯇W(xué)者在操作中，同樣得到專家級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個方面—從*開放式針尖樣品空間，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計以求達到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺，三者結(jié)合提供了AFM儀器性能，保證您在 短時間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版。

世界上 靈活的平臺 

  Dimension FastScan 展現(xiàn)出的性能，堅固性和靈活度，使得這臺儀器實現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強大的功能*展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標準。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件。

性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要

出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求

  Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM 技術(shù)，模式和模式增強功能，Dimension FastScan以其*的性能優(yōu)勢，幫助您完成更高水平的納米研究。

材料成像 

  FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的 PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描管的情況下可進行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù)，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時間。

    納米操縱 

  可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng)，大大提高了操縱的 度。同時超低噪音的精密探針的準確定位，適用于任何納米操作系統(tǒng)。

加熱和冷卻 

  在以各種AFM 模式掃描的同時可實現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的 控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。

    電學(xué)表征 

  使用 的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍上實現(xiàn)電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了*的電學(xué)表征方法，同時還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。

  利用 短時間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果

  無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè) 的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進行快速準確的處理分析。

    樣品篩選

  利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進行樣品常規(guī)篩選。無論是材料生產(chǎn)中進行失效分析或納米級的質(zhì)量控制，及時的產(chǎn)品信息反饋是*的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時，成為*條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進行篩選，這可能成為FastScan的一個新用途。

動態(tài)應(yīng)用范例

  另一種常見的應(yīng)用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動態(tài)變化觀察都是研究價值的。Dimesion FastScan為這種實驗提供了極為便利的條件。