Belec IN-SPECT
Belec IN-SPECT是用于金屬分析的新型緊湊型固定光譜儀。 
臺式儀器以壓縮的方式將復雜的實驗室儀器的大部分功能結(jié)合在一起。
Belec IN-SPECT—產(chǎn)品功能
 
•新5GSO系統(tǒng)提高整體分析效能（第5代光譜儀光學系統(tǒng)）
•優(yōu)良的探測器，*展現(xiàn)在光譜學的應用
•結(jié)構(gòu)緊湊
•服務和操作方面人性化設計
•低檢測下限-高精度
•易于操作的Belec Win 21軟件
•開放式火花臺
•富有吸引力的設計

Belec IN-SPECT 標準配置的惰性氣體流動的光學光譜室，和對分析要求的不斷優(yōu)化使得設備富有吸引力。同時，Belec IN-SPECT為用戶提供了高性能和準確性。
連同其它配件一起，設備顯示了一個真正的分析單元，取代傳統(tǒng)的笨重而龐大的系統(tǒng)。
集成光譜儀，包含優(yōu)良的5GSO系統(tǒng)，由BELEC工程師設計，可以在任何類型的光譜線同時應用時也不會出現(xiàn)相互的干擾。
Belec IN-SPECT — 技術(shù)數(shù)據(jù)
 
光學
•帕刑-龍格裝置光譜室 
•羅蘭圓直徑300mm
•可用波長145-410 nm
•光柵，3600線/ mm
•色散率0.9 nm / mm（1次）
•耐沖擊
•恒溫探測器配備波長入射窗口（US許可）
•集成噪聲補償
•寬7μ像素優(yōu)化線分離
•一個基體模塊*校正，延伸到幾乎多個額外基體模塊
•不限數(shù)量的元素信道
•惰性氣體光譜室?guī)艋到y(tǒng)
•可選配置為：真空光譜室代替惰性氣體交換光譜室
 
光源
•火花發(fā)生器的頻率400 Hz
•單極放電
•通過軟件控制預火花參數(shù)和集成數(shù)據(jù)參數(shù)
•通過軟件控制點火頻率程序
•通過軟件控制放電功率程序
•點火電壓20 kV
 
測量臺
•為精確分析的氬氣流測量臺
•火花測量臺上帶Ø10mm分析口，可選帶Ø4mm分析口的陶瓷或金屬墊片
•可配合線材、管材和小零件的適配器使用
•低損鎢電極
•氣動試樣夾具
•氬氣流量待機時0.1 l / min，分析時2 l / min
•免維護
 
電子器件
•10個探測器，每個3648像素，寬7μ像素
•溫度穩(wěn)定，精到0.1°C
•每個探測器都有獨立的AD轉(zhuǎn)換器，安裝在多通道板上，以高速通用USB端口連接
•集成噪聲抑制 - 集成背景補償
•無限數(shù)量的測量信道，可配置多個基體
 
尺寸
•寬30.5英寸（775毫米）
•高14.9英寸（380毫米）
•深度23.6英寸（600毫米）附加6.1英寸（155毫米）的火花臺

 

 
重量
•分析單元152.1磅 （69kg）附加顯示器和鍵盤
 
電源
•230V / 50Hz或110V / 60Hz
•100 W待機時
•600 W分析時
 
真空系統(tǒng)電源（可選）
•600 W待機時
•1100W分析時
 
計算機硬件
•系統(tǒng)集成工業(yè)計算機系統(tǒng)
•Intel®Core®Duo T7400（2.16 GHz，4MBL2）
•2 GB DDR2 SD RAM內(nèi)存
•2.5“硬盤＞60 GB
•19“彩色顯示器，其他尺寸也可用
•全尺寸外接鍵盤
•USB 2.0端口
•以太網(wǎng)接口
 
軟件
通用操作系統(tǒng)，例如MS Windows 7
•遠程服務系統(tǒng)（RSS）
•每次測量都會顯示分析值
•可以根據(jù)客戶要求設計不同分析程序
•每個分析程序都有獨立的分析參數(shù)
•自動選擇程序（APF）
•分析計算：背景修正，曲線位置修正，乘和加相互修正
•以標準類型進行自動修正（類型校準）
•容易同時進行多個程序的重校正（BGR）
•混料分選通過與參考工件的測量數(shù)據(jù)進行比較
•牌號分析是與預設的牌號范圍進行比較
•類型校正和類型測量
•每個分析程序在相對和絕對含量的公差，可調(diào)整
•可選測量結(jié)果的平均和標準偏差
•當數(shù)據(jù)超過校正曲線時，會有報警信號
•輕松的同時重新校準幾個程序
•通過使用MCDC（多信道漂移校正）延長重校正所需的周期
•自動提示定期重校正
•自動顯示牌號或物料號
•合金牌號數(shù)據(jù)庫可達100.000個或以上（取決于計算機存儲量）
•顯示器上文字的大小可變，以達到清晰度
•自動存儲功能