Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海爾迪儀器科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/11/25 21:53:31
- 訪問(wèn)次數(shù) 2158
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-150萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,綜合 | 樣品定位范圍 | 12 mm x 26 mm x 29 mm (壓痕軸) |
樣品定位靈敏度 | 1 nm (編碼) | 系統(tǒng)基本重量 | 480g |
BRUKER納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 電容傳感技術(shù),繼承了原位 SEM 納米力學(xué)平臺(tái)的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測(cè)試和力學(xué)性能成像等功能。
Hysitron PI 89的緊湊設(shè)計(jì)允許樣品臺(tái)傾斜,以及測(cè)試時(shí)成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能:
重新設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)增加適用性和易用性
1 nm精度的線性編碼器實(shí)現(xiàn)更大范圍下更好的自動(dòng)測(cè)試定位重復(fù)性
更高的框架剛度(~0.9 x 106 N/m)提供測(cè)試過(guò)程更好的穩(wěn)定性
兩種旋轉(zhuǎn)/傾斜模式實(shí)現(xiàn)城鄉(xiāng)、FIB加工、以及各種探測(cè)器的聯(lián)用,包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。
Hysitron PI 89利用布魯克先進(jìn)的亞納米尺度傳感器和壓電力驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)真正的位移控制和載荷控制測(cè)試:
在固有位移控制模式中,壓電驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)預(yù)設(shè)位移率的位移控制,同時(shí)力傳感器測(cè)量力。
在真載荷控制模式下,力傳感器直接通過(guò)靜電力加載,同時(shí)通過(guò)三板電容測(cè)量位移。
傳感器的超低電流設(shè)計(jì)使得溫漂最小化,實(shí)現(xiàn)無(wú)比靈敏的載荷和位移測(cè)量。
Hysitron PI 89獲得的原位力學(xué)測(cè)試結(jié)果與SEM成像同步且并列顯示。這使得用戶能觀察到缺陷、應(yīng)變、熱/電刺激對(duì)于工程材料性能、壽命和耐久性從納米到微米尺度的影響。這種同步實(shí)現(xiàn)更多的分析:
旋轉(zhuǎn)/傾斜樣品臺(tái)實(shí)現(xiàn)EBSD和力學(xué)性能成像聯(lián)用
能在力學(xué)性能測(cè)試前、后直接進(jìn)行FIB加工,而無(wú)需轉(zhuǎn)換腔體