X射線衍射儀（D8A25）樣品結(jié)構(gòu)分析測(cè)試可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且，可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。

X射線衍射儀（D8A25）樣品結(jié)構(gòu)分析測(cè)試可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精細(xì)Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld結(jié)構(gòu)分析

5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區(qū)樣品的分析

配置：1.九位進(jìn)樣；2. 電化學(xué)原位池

功能：物相分析；電化學(xué)原位分析

參數(shù)：

1、 輸出功率：3Kw

2、 Cu靶，陶瓷X光管，2.2Kw

3、 測(cè)量范圍-100o≤2θ≤168 o 小角最小0.3度

4、 可讀最小步長(zhǎng)：0.0001 o，角度重現(xiàn)性：0.0001 o

5、 定位速度：1200 o/min

6、 子探測(cè)器個(gè)數(shù)：192個(gè)

7、 整個(gè)探測(cè)器總背景：＜0.1 cps

8、 能量分辨率：＜9%