JEM 2100F 高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析
| 參考價(jià) | ￥ 250 |
| 訂貨量 | ≥1個(gè) |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京泰克來爾科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) JEM 2100F
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2021/8/13 12:16:10
- 訪問次數(shù) 847
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 場(chǎng)發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,地礦,能源,建材/家具 |
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析JEM2100F
1. 獲得納米材料，金屬材料，陶瓷材料的微觀形貌，孔隙情況，樣品顆粒大小等；
2. 獲得材料的高分辨數(shù)據(jù)，晶格條紋，獲取晶體學(xué)參數(shù)；
3. 獲得材料衍射花紋，判斷材料晶體學(xué)參數(shù)；
4. 得到材料EDS信號(hào)，表征材料元素分布，半定量分析材料元素含量等，可進(jìn)行面掃，點(diǎn)掃，線掃等方式；
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術(shù)指標(biāo)：
1、點(diǎn)分辨率：0.25nm；線分辨率：0.102nm；STEM分辨率：0.20nm
2、加速電壓：80，100，160，200KV
3、傾斜角（X/Y）：±42/±30°；
4、配備德國(guó)Bruker公司XFlash 5030T型X射線能譜儀
應(yīng)用范圍：
1.應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析；
2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè)；
3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定；
4.復(fù)合材料界面特性的研究。
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