Vasco Kin 原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
- 公司名稱 儀思奇(上海)儀器有限公司
- 品牌 Cordouan/法國
- 型號(hào) Vasco Kin
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2022/10/19 13:52:05
- 訪問次數(shù) 3511
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測(cè)量范圍 | 0.5nm 到 10µm微米 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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分散方式 | 濕法分散 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
儀器種類 | 動(dòng)態(tài)光散射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè) |
Vasco Kin原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
l 粒度測(cè)量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動(dòng)態(tài)光散射原理,實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測(cè)量
l 監(jiān)測(cè)納米顆粒合成過程;監(jiān)測(cè)整個(gè)過程的粒度變化情況,有助于穩(wěn)定性研究
l 全自動(dòng)非接觸測(cè)量:能穿透玻璃和塑料針管,測(cè)定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化
l 適用樣品濃度:0.1ppm-40%(w/v)
l 時(shí)間分辨: DLS的分辨率為0.2s,用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)測(cè)
l 隨時(shí)間變化的粒度分布彩色地形圖
l “時(shí)間切片”功能:用戶對(duì)測(cè)試后數(shù)據(jù)可進(jìn)行任意時(shí)間段內(nèi)的粒度分析
l 樣品前處理:無需樣品前處理,直接測(cè)試
原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀