fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237
- 公司名稱 無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司
- 品牌 Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/6/15 12:12:53
- 訪問次數(shù) 1094
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涂層測(cè)厚儀，鍍層厚度測(cè)量?jī)x，涂鍍層厚度無(wú)損測(cè)量?jī)x，手持式涂鍍層測(cè)厚儀，表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x，油漆涂層測(cè)厚儀，便攜式涂層測(cè)厚儀，菲希爾涂層測(cè)厚儀，無(wú)損測(cè)厚儀，覆層測(cè)厚儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池 |
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從1953年至今，菲希爾公司不時(shí)地在涂鍍層測(cè)厚、資料剖析、微硬度丈量和資料測(cè)試范疇開展出創(chuàng)新型的丈量技術(shù)。往常，菲希爾的丈量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對(duì)儀器精確度，精度和牢靠性的請(qǐng)求。
兩種型號(hào)的儀器都裝備了比例接納器探測(cè)器。即便關(guān)于很小的丈量點(diǎn),由于接納器的接納面積很大，依然能夠取得足夠高的計(jì)數(shù)率,確保良好的反復(fù)精度。比擬XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測(cè)星測(cè)星方向從.上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī),運(yùn)用模塊化構(gòu)造,也就是說(shuō)它們能夠裝備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以順應(yīng)不同的需求。fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237
配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。它可以很便當(dāng)?shù)貟呙璞砻?這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品，當(dāng)丈量門開啟時(shí), XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到加載位置,同時(shí)激光點(diǎn)指示測(cè)星點(diǎn)位置。關(guān)于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有啟齒(C形槽)。由于測(cè)星室空間很大,樣品放置便當(dāng)，儀器不只可以丈量平面平整的物體,也可以測(cè)星外形復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm)。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器，丈量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測(cè)星腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。
PMP10 與 PMP10 DUPLEX 采用相位敏感測(cè)量技術(shù)，適用于測(cè)量粗糙底材上的涂鍍層厚度或鋼上的鍍鎳層厚度。
對(duì)于汽車行業(yè)，必須測(cè)量鋁或鍍鋅鋼板上油漆涂層厚度，而 PMP10 DUPLEX 是此類應(yīng)用的理想解決方案。該設(shè)備可通過單次測(cè)量精確測(cè)定各涂層的厚度，從而節(jié)省時(shí)間和成本。PMP10 特別適用于電鍍或電路板行業(yè)，可用于檢查各種底材上的導(dǎo)電鍍層。fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237|fischerX-RAY XDLM231|XDLM232|XDLM237
特性：
通過相敏測(cè)量技術(shù)對(duì)鋼上的鎳、鋅或銅鍍層厚度進(jìn)行精確測(cè)量，甚至可在粗糙表面上進(jìn)行測(cè)量
使用 DUPLEX 型儀器，通過單個(gè)程式同時(shí)測(cè)量鍍鋅鋼板上的油漆層和鍍鋅層
使用 Fischer DataCenter 軟件輕松進(jìn)行測(cè)量值的后續(xù)處理
穩(wěn)固的手持式測(cè)量設(shè)備，用于直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
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