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LQ-100X-PL 光致發(fā)光與發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)試系統(tǒng)
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號(hào) LQ-100X-PL
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/13 15:28:27
- 訪問次數(shù) 9788
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測(cè)量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
尺寸大小 | 502.4mm(L)?x?322.5mm(W)?x?352mm(H) | 波長(zhǎng) | 1000?nm至1700?nm |
產(chǎn)品介紹
什么是 PL?
PL (Photoluminescence, 光致發(fā)光):當(dāng)材料吸收光子后,電子躍遷至激發(fā)態(tài),再回到低能態(tài),將能量以光的形式發(fā)出。
什么是 PLQY?
PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產(chǎn)率) 計(jì)算方式為發(fā)出的光子數(shù)除以吸收的光子數(shù)。PLQY 是評(píng)價(jià)發(fā)光材料的重要指標(biāo),除了可以用來對(duì)材料進(jìn)行初級(jí)分類的基本參數(shù),且對(duì)于發(fā)光系統(tǒng)與其載子動(dòng)力學(xué)的重要分析方法。
LQ-100X-PL 如何測(cè)試 PLQY?
● 量測(cè)背景訊號(hào)
● 量測(cè)樣品
● 計(jì)算樣品的光致發(fā)光量子產(chǎn)率
PL 與 PLQY 是研究材料表征的重要工具,目前材料測(cè)試面臨挑戰(zhàn)有以下三點(diǎn):
(1) 無法在手套箱內(nèi)測(cè)試。
(2) 無法進(jìn)行原位時(shí)間光譜解析。
(3) 紅外波段擴(kuò)展不易。
LQ-100X-PL 針對(duì)上述的3大痛點(diǎn),做出了應(yīng)對(duì)。
特點(diǎn)
LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng) 擁有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢(shì):
● 以緊湊的設(shè)計(jì),尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H),搭配 4 吋外徑 PTFE 材質(zhì)的積分球,并且整合 NIST 追溯的校準(zhǔn),讓手套箱整合 PL 與 PLQY 成為可能。
● 利用*進(jìn)的儀表控制程序,可以進(jìn)行原位時(shí)間 PL 光譜解析,并且可產(chǎn)生 2D 與 3D 圖表,說明用戶可以更快地表征材料在原位時(shí)間的變化。
● 系統(tǒng)光學(xué)設(shè)計(jì)可容易的做紅外擴(kuò)展,波長(zhǎng)由1000 nm 至 1700 nm。粉末、溶液、薄膜樣品都可兼容測(cè)試。
規(guī)格
標(biāo)準(zhǔn)配置:
● 全向式收光系統(tǒng) (100 mm 積分球)
● 增強(qiáng)型多信道光譜儀測(cè)試系統(tǒng)
● 光致發(fā)光量測(cè)模塊 (365 nm LED 激發(fā)光源)
● 量測(cè)軟件
● 工控機(jī)與屏幕
選配規(guī)格:
● EL光譜整合測(cè)試套件 (源表/PMT模塊/背探式樣品盒/多通道手動(dòng)切換盒/EL量測(cè)軟件升級(jí))
● 紅外光譜擴(kuò)充模塊 (900 – 1700 nm)
● 手套箱整合套件
● 激發(fā)光源
● LED光源 (波長(zhǎng)可選:365 nm / 405 nm / 455 nm / 470 nm / 505 nm / 530 nm / 590 nm / 660 nm / 810 nm / 850 nm / 940 nm)
● Laser光源 (波長(zhǎng)可選:380 nm / 405 nm / 520 nm / 635 nm / 785 nm / 808 nm / 832 nm / 880 nm / 940 nm)
應(yīng)用
LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng) 可用于:
● 熒光粉 (Phosphor)
● 發(fā)光二極管熒光材料 (LED fluorescent material)
● 有機(jī)發(fā)光二極管熒光材料 (OLED fluorescent material)
● 鈣鈦礦 (Perovskite)
● 雷射染料 (Laser dies)
● 鈣鈦礦量子點(diǎn)粉末與單晶 (Perovskite quantum dot powder and single crystal)
● PbS 量子點(diǎn) (PbS quantum dot)
實(shí)證
● PL 光譜顯示:
LQ-100X-PL 系統(tǒng)可以針對(duì)多種材料進(jìn)行 PL 與 PLQY 測(cè)試。步驟如下:
1.測(cè)量背景訊號(hào),如圖中藍(lán)色曲線,并可計(jì)算入射激發(fā)光子總數(shù)。
2.測(cè)量樣品光譜,如圖中綠色曲線。計(jì)算得到發(fā)射光子總數(shù)。
3.計(jì)算 1. 2. 步驟中,樣品吸收光子率與吸收光子總數(shù)。
4.由 1. 3. 相除可得到 PLQY。
● 發(fā)射光譜分析:
LQ-100X-PL 軟件可以針對(duì) PL 發(fā)射光譜進(jìn)行多種分析,以定量的表征材料的特性。包含:
1.發(fā)光 CIE 色坐標(biāo)
2.CIE-xyz
3.CIE-XYZ
4.CIE-uv
5.色溫
6.色彩純度
● 原位時(shí)間解析 PL 光譜變化:
LQ-100X-PL 除了 PLQY 測(cè)量外,還可進(jìn)行 PL 光譜隨時(shí)間變化連續(xù)測(cè)試,并繪制成 2D 或 3D 顯示圖-稱為原位時(shí)間解析 PL 光譜圖。如圖所示,鈣鈦礦的 PL 光譜隨著時(shí)間增加的變化,可以波長(zhǎng)半寬 (FWHM) 隨之增加,并且產(chǎn)生中心波長(zhǎng) (Peak Lambda) 紅移的現(xiàn)象。分析原位時(shí)間解析 PL 光譜圖,對(duì)于新型材料如鈣鈦礦的穩(wěn)定性或亞穩(wěn)態(tài)特性,具有直接的的證據(jù)說服力。是材料表征的理想工具。