R-50 方阻測試儀
- 公司名稱 上海納騰儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 R-50
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/6/17 17:12:32
- 訪問次數(shù) 3505
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價格區(qū)間 | 面議 | 檢測參數(shù) | 多參數(shù) |
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儀器種類 | 臺式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
KLA薄膜電阻測量技術(shù)方阻測試儀包括接觸(4PP)和非接觸(EC)方法。
Filmetrics的R50系列方塊電阻測量儀器可測量沉積在各種基材上的導(dǎo)電片和薄膜,跨越10個數(shù)量級范圍電阻率,包括:
半導(dǎo)體晶圓基板
玻璃基板
塑料(柔性)基材
PCB圖案特征
太陽能電池
平板顯示層和圖案化特征
金屬箔
二、方阻測試儀主要功能
l 技術(shù)規(guī)格
測量范圍:5m Ohm/sq - 5M Ohm/sq;
測量精度: +/- 1%;
重復(fù)度: 小于 0.2%;
樣品圖中無*的測量點位,自定義測量Recipe,可線性、矩形、
極坐標(biāo)以及自定義等。
Model | Description |
R50-4PP | 四探針測試 自動XY移動臺-100mm*100mm 可實現(xiàn)直接100mm晶圓方塊電阻mapping測量 可放置直徑200mm晶圓樣品 |
R50-EC | 非接觸渦流測試 自動XY移動臺-100mm*100mm 可實現(xiàn)直接100mm晶圓方塊電阻mapping非接觸測量 可放置直徑200mm晶圓樣品 |
R50-200-4PP | 四探針測試 自動XY移動臺-200mm*200mm 可實現(xiàn)直接200mm晶圓方塊電阻mapping測量 |
R50-200-EC | 非接觸渦流測試 自動XY移動臺-200mm*200mm 可實現(xiàn)直接200mm晶圓方塊電阻mapping非接觸測量 |
三、應(yīng)用
支持廣泛的測量,包括但不限于以下各項:
金屬膜厚度、基板厚度、方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率、摻雜濃度等。