菲希爾鍍層測厚儀XDAL
- 公司名稱 無錫駿展儀器有限責(zé)任公司
- 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/6/16 19:08:35
- 訪問次數(shù) 1002
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池 |
菲希爾鍍層測厚儀XDAL
菲希爾鍍層測厚儀XDAL
菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀
x射線厚度測試儀
菲希爾鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設(shè)計(jì)理念:
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237菲希爾鍍層測厚儀是一款界面友好的臺(tái)式測量儀器。它裝備了高精度,可編程運(yùn)行的 工作臺(tái)和電調(diào)的軸升降系統(tǒng),是進(jìn)行自動(dòng)測量的理想儀器。菲希爾鍍層測厚儀當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí),工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。通過激光光點(diǎn),可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大能,可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實(shí)時(shí)觀察測量過程和進(jìn)度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動(dòng)調(diào)整儀器或搖桿,或通過操作鼠標(biāo)和鍵盤來現(xiàn)。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì),由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。所有的操作,量數(shù)據(jù)的計(jì)算,以及測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友好的 軟件在電腦上完成的。
菲希爾測厚儀憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測量方向,XDL系列測量儀器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上,F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL菲希爾測厚儀型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上,使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器,從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而,這臺(tái)儀器適合于一般材料分析,痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。
菲希爾測厚儀X射線源是一個(gè)能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而,由于相對較小的探測器有效接收面積(相比較比例計(jì)數(shù)器探測器來說),信號強(qiáng)度低,故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點(diǎn)的測量。和XDLM類似,準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動(dòng)切換,以便為不同測量程式創(chuàng)造良好的激勵(lì)條件。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大,可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置z高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。