儀器簡介：

XD鍍層測厚儀是一款專用于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內的異形件具備巨大的優(yōu)勢。

被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

產品優(yōu)勢：

• *EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可精準測量

• 上照式設計：實現(xiàn)可對超大工件進行快、準、穩(wěn)高效率測量

• 自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦

• 變焦裝置算法：可對0-90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測

• 小面積測量：最小測量面積0.002mm2

• 可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內無人值守自動測量

XD鍍層測厚儀應用領域：

廣泛應用于半導體行業(yè)、新能源行業(yè)、5G通訊、五金建材、航空航天、環(huán)保行業(yè)、汽車行業(yè)、衛(wèi)浴裝飾、

精密電子、電鍍行業(yè)等多種領域。

X射線熒光膜厚儀XD-1000配件

開放式樣品腔，滿足大樣品測試
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
X射線熒光膜厚儀配備Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機（可以保存和實時打?。?/span>

X射線熒光膜厚儀XD-1000參數規(guī)格

型號：XD-1000X射線熒光膜厚儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

產品功能

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度

產品用途

X射線熒光膜厚儀應用于金屬鍍層的厚度（鍍銀、鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍鉻、鍍鈀等）測量、電鍍液和鍍層含量的測定,端子連接器、LED、半導體、衛(wèi)浴潔具、PCB、電子電器、氣配五金、珠寶首飾、汽車配件、制冷設備、檢測機構以及研究所和高等院校等衛(wèi)浴等行業(yè)。