KT-Z160TZ 真空探針臺(tái)
參考價(jià) | ¥ 108000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱(chēng) 鄭州科探儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 鄭科探
- 型號(hào) KT-Z160TZ
- 產(chǎn)地 鄭州
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/3/29 15:40:51
- 訪問(wèn)次數(shù) 1588
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真空探針臺(tái)KT-Z160TZ主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控探針臺(tái),真空探 針臺(tái)(低溫探針臺(tái)),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)。普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異,即主要由x-y向工作臺(tái),可編程承片臺(tái)、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成
高低溫真空 探針臺(tái)應(yīng)用:
可應(yīng)用于低溫或高溫真空環(huán)境下被測(cè)樣品的電學(xué)性能測(cè)試分析,如:半導(dǎo)體/微電子,電子,機(jī)電,物理,化學(xué),材料,光電,納米,微機(jī)電/MEMS,生物芯片,航空航天等科學(xué)研究領(lǐng)域,以及IC設(shè)計(jì)/制造/測(cè)試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領(lǐng)域。
· 結(jié)構(gòu)緊湊,適用于各種變溫測(cè)試
· -196℃~400℃(配液氮致冷模塊)
· 氣密腔室設(shè)計(jì),可通保護(hù)氣氛
· 4探針,手動(dòng)定位(可擴(kuò)展為6個(gè))
· 支持改動(dòng)或定制
真空探針臺(tái)KT-Z160TZ參數(shù)
真空腔體 | |
腔體材質(zhì) |
304不銹鋼 |
上蓋開(kāi)啟 |
鉸鏈側(cè)開(kāi) |
加熱臺(tái)材質(zhì) |
304不銹鋼 |
內(nèi)腔體尺寸 |
φ160x90mm |
觀察窗尺寸 |
Φ70mm |
加熱臺(tái)尺寸 |
φ60mm |
觀察窗熱臺(tái)間距 |
75mm |
加熱臺(tái)溫度 |
﹣196~400℃ |
加熱臺(tái)溫控誤差 |
±1℃ |
真空度 |
機(jī)械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa |
允許正壓 |
≤0.1MPa |
真空抽氣口 |
KF25真空法蘭 |
氣體進(jìn)氣口 |
3mm-6mm卡套接頭 |
電信號(hào)接頭 |
SMA轉(zhuǎn)BNC X 4 |
電學(xué)性能 |
絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質(zhì)耐壓 ≤500V |
探針數(shù)量 |
4探針 |
探針材質(zhì) |
鎢針 |
探針尖 |
10μm |
探針移動(dòng)平臺(tái) | |
X軸移動(dòng)行程 |
30mm ±15mm |
X軸控制精度 |
≤0.01mm |
Y軸移動(dòng)行程 |
13mm ±12.5mm |
Y軸控制精度 |
≤0.01mm |
Z軸移動(dòng)行程 |
13mm ±12.5mm |
Z軸控制精度 |
≤0.01mm |
電子顯微鏡 | |
顯微鏡類(lèi)別 |
物鏡 |
物鏡倍數(shù) |
0.7-4.5倍 |
工作間距 |
90mm |
相機(jī) |
sony 高清 |
像素 |
1920※1080像素 |
圖像接口 |
VGA |
LED可調(diào)光源 |
有 |
顯示屏 |
8寸 |
放大倍數(shù) |
19-135倍,視場(chǎng)范圍15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm |
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