SS-180A AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng) 北京三友鼎盛科技有限公司
品牌 其他品牌
型號(hào) SS-180A
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2024/3/28 14:58:54
訪問(wèn)次數(shù) 4977

產(chǎn)品標(biāo)簽

太陽(yáng)光模擬器氙燈光源太陽(yáng)光模擬器廠家國(guó)產(chǎn)太陽(yáng)光模擬器進(jìn)口太陽(yáng)光模擬器

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

北京三友鼎盛科技有限公司是一家集設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售、服務(wù)為一體的技術(shù)型企業(yè)。
公司擁有專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，強(qiáng)大的銷(xiāo)售隊(duì)伍及完善的售前、售后服務(wù)體系，致力于向用戶(hù)提供性能卓越的產(chǎn)品、解決方案和高品質(zhì)的專(zhuān)業(yè)服務(wù)。
在實(shí)驗(yàn)室，生命科學(xué)，光學(xué)，物性測(cè)試，環(huán)保等領(lǐng)域擁有廣泛的客戶(hù)基礎(chǔ)及良好口碑。
我們追求與用戶(hù)、研究機(jī)構(gòu)及合作伙伴之間誠(chéng)信的專(zhuān)業(yè)對(duì)話，力求建立長(zhǎng)久合作。
我們相信我們精心提供的高效、優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)，會(huì)使您實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)更有效，實(shí)驗(yàn)操作更簡(jiǎn)便，研究結(jié)果更可靠。

展開(kāi)

3A級(jí)太陽(yáng)光模擬器

詳細(xì)信息 在線詢(xún)價(jià)

產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	觸發(fā)模式	穩(wěn)態(tài)式
價(jià)格區(qū)間	面議	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,綜合
有效光斑面積	180mm*180mm	加工定制	是
出光形態(tài)	方形	出光方向	向下（可定制其他方向）
測(cè)試軟件	可選	氙燈功率	1000W
氙燈產(chǎn)地	進(jìn)口	夾具配件	可選
可售賣(mài)地	全國(guó)

　　AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器SS-180A搭載測(cè)試儀表及測(cè)試夾具等設(shè)備可以用來(lái)測(cè)試光伏器件(包括各種太陽(yáng)電池)的電性能，如Pmax，lmax，Vmax等以及I-V曲線等。

AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器SS-180A技術(shù)參數(shù)：

　　有效光譜面積：180mm*180mm

　　光譜不匹配性：<±25%,C1assA

　　輻照不穩(wěn)定性：小于±2% Class A

　　輻照不均勻性：小于±2% Class A

　　輻照強(qiáng)度：1.0sun

　　準(zhǔn)直角：優(yōu)于±4度

　　功率可調(diào)范圍：±30%

　　測(cè)量距離：35-40cm

　　快門(mén)控制時(shí)間：0.1s-9990hours

　　支持定制：AM0或其他濾片

　　光譜不匹配性(Spectral Coincidence)對(duì)于IV測(cè)試的影響：我們知道太陽(yáng)光模擬器要達(dá)到AM1.5G的標(biāo)準(zhǔn)光譜，幾乎是不可能的；但是盡可能的接近標(biāo)準(zhǔn)光譜，可使得我們的測(cè)試結(jié)果更加接近真實(shí)環(huán)境；B級(jí)光源在不同波段不匹配性在60~140%，與A75%~125%相比，相差甚大，這也必將導(dǎo)致單一波長(zhǎng)下的短路電流出現(xiàn)很大不確定性和偏差！從而產(chǎn)生累積效應(yīng)將影響整體測(cè)試數(shù)據(jù)；

　　輻照不穩(wěn)定度(Temporal Instability of Irradiance)對(duì)于IV測(cè)試的影響：日本JIS C8912 標(biāo)準(zhǔn)在國(guó)際三大標(biāo)準(zhǔn)中是比較嚴(yán)格的，要求輻照不穩(wěn)定度要小于1% (IEC 60904-9.ASTM E927-05.兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)要求小于2%)；

　　有效照射面積內(nèi)不同點(diǎn)的輻照均勻性(Uniformity of Irradiance)對(duì)于IV測(cè)試的影響：峰值功率、短路電流隨著光斑內(nèi)輻照強(qiáng)度不均勻性增加，而顯著降低；從而也導(dǎo)致其他相關(guān)參數(shù)測(cè)試數(shù)據(jù)(如轉(zhuǎn)換效率、填充因子)出現(xiàn)大的偏差！?。?br />

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