ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設(shè)計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng)特點：

●可以測試多達1056 pin的器件。

●占用空間小。

●適用于ESD測試和latch-up測試，符合最新的測試標準。

●板上最多8個插座。

●符合國際標準（JEDEC，ESDA）與Hanwa S5000和Verifire插座板兼容。

公司已經(jīng)與多家世界的半導體器件和精密測試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括：探針臺系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測試系統(tǒng)制造商MAURY；測量儀器制造商KEYSIGHT；的模型服務(wù)商Modelithics；EDS設(shè)備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)。