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HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)

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公司名稱 南京芯測軟件技術(shù)有限公司
品牌 其他品牌
型號
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2024/11/7 12:12:48
訪問次數(shù) 2038

產(chǎn)品標(biāo)簽

測試機(jī)測試設(shè)備

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公司介紹 主營產(chǎn)品

南京芯測軟件技術(shù)有限公司，專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國內(nèi)晶圓級在片測試，器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)

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探針臺，芯片ESD測試設(shè)備，TLP測試設(shè)備，CDM測試設(shè)備

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應(yīng)用領(lǐng)域	化工,電氣,綜合

ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)

HED-W5000M

晶圓ESD測試機(jī)

l 價格適中的多功能手動晶圓級測試儀。

l 專用軟件可用于泄漏測量和判斷。

l 適用于大多數(shù)類型的手動探針臺。

Wafer ESD 測試機(jī)系列

Wafer ESD 測試機(jī) 產(chǎn)品系列

此設(shè)備是可以在Wafer level上進(jìn)行HBM,MM測試的設(shè)備

產(chǎn)品名/型號	設(shè)備說明	設(shè)備介紹視頻
HED-W5100D	全自動 Wafer ESD測試機(jī) 從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后，可根據(jù)漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關(guān)聯(lián)性的TLP測試設(shè)備進(jìn)行組合測試對ESD測試中發(fā)生問題的器件，能有效取得保護(hù)電路中的工作參數(shù) 是滿足日本、國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格）	click
HED-W5000M	高性能半自動Wafer level ESD測試機(jī) 通過操作探針座，可以輕松地決定兩個管腳之間的位置在印加脈沖后，可以通過漏電流測試判斷pass/fail。
HED-W5000M-SP0	Low Cost Wafer ESD Tester 低成本、高性能可通過開放控制軟件構(gòu)建廣泛應(yīng)用程序
HED-W5000M-WFC	Wafer level ESD測試機(jī) 在對集成電路中保護(hù)電路工作參數(shù)的收集與分析上，雖然TLP測試機(jī)起到了很大的作用，但是在半導(dǎo)體制程細(xì)微化的發(fā)展中，為了提高對ESD的抵抗性，保護(hù)電路需要更快的研發(fā)速度 HED-W5000M-WFC測試機(jī)，因其可以觀測到被印加到器件上的實際的ESD波形，所以有助于收集、分析保護(hù)電路參數(shù)以及縮短研發(fā)速度

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Wafer ESD 測試機(jī)系列

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全自動 Wafer ESD測試機(jī)

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高性能半自動Wafer level ESD測試機(jī)

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