透射電鏡雙傾光熱原位系統(tǒng)
- 公司名稱 廈門超新芯科技有限公司
- 品牌 CHIPNOVA
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2023/12/27 10:01:24
- 訪問次數(shù) 2322
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(HR)TEM/STEM | 支持 | 適用電鏡 | ThermoFisher/FEI,?JEOL,?Hitachi |
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我們的優(yōu)勢
光學(xué)解決方案
1.一體式激光光源,集成紫外-可見-紅外不同波段并輸出特定波長激光,光信號強(最大強度不低于150 mW),可快速連續(xù)調(diào)節(jié)光源強度,響應(yīng)時間短(毫秒級)。
2.特殊結(jié)構(gòu)設(shè)計,超低光損耗,能量穩(wěn)定均勻。
優(yōu)異的熱學(xué)性能
1.高精密紅外測溫校正,微米級高分辨熱場測量及校準(zhǔn),確保溫度的準(zhǔn)確性。
2.兩電極的超高頻控溫方式,排除導(dǎo)線和接觸電阻的影響,測量溫度和電學(xué)參數(shù)更精確。
3.采用高穩(wěn)定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料),既是熱導(dǎo)材料又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關(guān)系,加熱區(qū)覆蓋整個觀測區(qū)域,升溫降溫速度快,熱場穩(wěn)定且均勻,穩(wěn)定狀態(tài)下溫度波動≤±0.01℃。
4.采用閉合回路高頻動態(tài)控制和反饋環(huán)境溫度的控溫方式,高頻反饋控制消除誤差,控溫精度±0.01 ℃。
5.多級復(fù)合加熱MEMS芯片設(shè)計,控制加熱過程熱擴散,極大抑制升溫過程的熱漂移,確保實驗的高效觀察。
6.加熱絲外部由氮化硅包覆,不與樣品發(fā)生反應(yīng),確保實驗的準(zhǔn)確性。
智能化軟件和自動化設(shè)備
1.人機分離,軟件遠(yuǎn)程調(diào)節(jié)激光波段和強度,程序自動化控制傾轉(zhuǎn)角度。
2.自定義程序升溫曲線。可定義10步以上升溫程序、恒溫時間等,同時可手動控制目標(biāo)溫度及時間,在程序升溫過程中發(fā)現(xiàn)需要變溫及恒溫,可即時調(diào)整實驗方案,提升實驗效率。
3.內(nèi)置絕對溫標(biāo)校準(zhǔn)程序,每塊芯片每次控溫都能根據(jù)電阻值變化,重新進行曲線擬合和校正,確保測量溫度精確性,保證高溫實驗的重現(xiàn)性及可靠性。
4.全流程配備精密自動化設(shè)備,協(xié)助人工操作,提高實驗效率。
技術(shù)參數(shù)
類別 | 項目 | 參數(shù) |
基本參數(shù) | 桿體材質(zhì) | 高強度 鈦合金 |
電極數(shù) | 2 | |
視窗膜厚 | 無膜或20nm | |
漂移率 | <0.5 nm/min(穩(wěn)定狀態(tài)) | |
傾轉(zhuǎn)角 | α ≥ ±25°,β ≥ ±25°(實際范圍取決于極靴型號) | |
適用電鏡 | ThermoFisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
適用極靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP | |
(HR)TEM/STEM | 支持 | |
(HR)EDS/EELS/SAED | 支持升溫過程及高溫檢測 |
應(yīng)用案例
1300°C恒溫,金屬合金擴散,芯片溫度穩(wěn)定性好,漂移率低
室溫-1000°C變溫過程MOF材料碳化研究
二氧化鈰納米顆粒在800℃高溫、光照條件下的表面結(jié)構(gòu)變化