ContourX-200 三維光學輪廓儀
- 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ContourX-200
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/1/2 15:31:20
- 訪問次數(shù) 610
聯(lián)系方式:市場部15921886097 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
巖芯分析儀,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
ContourX-200光學輪廓儀融合了表征、可定制選項和易用性等特點,可提供快速、準確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計量方法。ContourX-200還配有分析軟件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能,可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于加工的表面,薄膜,半導(dǎo)體,眼科,醫(yī)療設(shè)備,MEMS和摩擦學等領(lǐng)域的測量分析。
高性能表面計量
* 與放大倍率無關(guān)的Z軸分辨率
* 大尺寸的標準視場
* 穩(wěn)定集成防震設(shè)計
高性能測量與分析功能
* 易于使用的界面,可快速準確地獲得結(jié)果
* 自動化功能用于日常測量和分析
* 廣泛的濾鏡和分析工具選項,用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析
* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告