CST-50 沖擊試樣缺口投影儀
| 參考價 | ￥ 5800 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 濟(jì)南信標(biāo)自動化設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 CST-50
- 產(chǎn)地 山東省濟(jì)南市長清區(qū)經(jīng)十西路7601號
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/2/17 14:16:40
- 訪問次數(shù) 842
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。CST-50是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。
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