SEM4000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流大且連續(xù)可調(diào),在EDS、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì)。支持低真空模式,可直接觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。
配備高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
分辨率高,30 kV下優(yōu)于0.9 nm的極限分辨率
三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流可調(diào)范圍大,最大支持 200 nA 的分析束流
標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器
無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì),可直接觀察磁性樣品
標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松