ECM-500/40-n J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置ECM-500系列
- 公司名稱(chēng) 上海首放電子科技有限公司
- 品牌 J-RAS
- 型號(hào) ECM-500/40-n
- 產(chǎn)地 日本
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2023/12/7 11:18:27
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 1585
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在線(xiàn)透過(guò)率測(cè)試儀,位相差測(cè)試裝置,霧度儀,色差儀,烘箱,水質(zhì)分析儀,眼鏡檢測(cè)設(shè)備
應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,航天,汽車(chē),電氣 |
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置ECM-500系列
絕緣抵抗測(cè)定器
型號(hào):
ECM-500/40-n
ECM-500/100-n
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE),經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~1000 小時(shí))并觀察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(ION MIGRATION),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。(ION MIGRATION TESTING) 適用規(guī)格:JPCA-ET01-2001
可在1v ~ 500v的寬外加電壓和CH個(gè)別電壓輸出下進(jìn)行各種樣品的測(cè)試
通過(guò)配備信道單獨(dú)計(jì)測(cè)電路進(jìn)行50msec/CH的高速掃描處理
用響應(yīng)速度低于100nsec的瞬時(shí)泄漏電流檢測(cè)電路,捕捉到泄漏觸摸現(xiàn)象
多達(dá)100ch的殼體小型輕量,不選擇場(chǎng)所設(shè)置,移動(dòng)也容易
利用倉(cāng)門(mén)打開(kāi)的接點(diǎn)進(jìn)行緊急停止或暫時(shí)停止的安全功能
采用不同CH的彩色電纜,減少焊接作業(yè)的負(fù)擔(dān),防止出錯(cuò)。
簡(jiǎn)單易用的軟件
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
用途
印刷電路板、焊錫、樹(shù)脂、絕緣材料等的遷移評(píng)價(jià)。
多達(dá)500v的外加電壓可滿(mǎn)足汽車(chē)電子相關(guān)廠(chǎng)商的測(cè)試要求。