化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設(shè)備>光學測量儀>其它光學測量儀>NovaLum 電致發(fā)光測量儀/器件壽命/IVL測試系統(tǒng)

舉報評價

IVL測試系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 東譜科技（廣州）有限責任公司
品牌 其他品牌
型號 NovaLum
產(chǎn)地 廣東省廣州是市天河區(qū)
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2025/3/11 10:44:04
訪問次數(shù) 304

產(chǎn)品標簽

電致發(fā)光 IVL、器件壽命角度分布、分辨前向亮度 OLED、LED、顯示屏

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公司介紹 主營產(chǎn)品

東譜科技 Oriental Spectra

東譜科技（品牌商標：Oriental Spectra）是一家專業(yè)的光電譜學類儀器及技術(shù)方案服務(wù)商，由國內(nèi)外高校專業(yè)研究人員和行業(yè)工程師聯(lián)合發(fā)起。團隊核心成員均獲得光機電類碩博士學位，具有5-10年國際實驗室及企業(yè)研發(fā)經(jīng)驗，擁有出色的光電子前沿科學研究及光機電產(chǎn)品開發(fā)的實力。自主研發(fā)的系列譜學檢測產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于材料科學、生命科學、食品科學、環(huán)境科學、石油化工、地質(zhì)學等領(lǐng)域。公司經(jīng)過多年發(fā)展，目前擁有應(yīng)用于光電子器件性能表征分析的光電產(chǎn)品線和前沿光譜技術(shù)（瞬態(tài)、超快）為核心的光譜產(chǎn)品線。具備為太陽能電池、光伏材料與器件、發(fā)光材料與器件、光催化、半導(dǎo)體材料等行業(yè)研究需要提供對應(yīng)表征測試分析儀器及測試方案的能力。

光電產(chǎn)品線

□ 電致/光致發(fā)光量子效率測量儀HiYield

□ 電致發(fā)光測量儀NovaLum

□ 多通道發(fā)光/光伏器件穩(wěn)定性測量儀EL-Lab

□ 太陽能電池光伏特性測量儀Sunshine

□ 瞬態(tài)光電流/光電壓/光電荷測量儀TranPVC

□ 多功能光電器件測量系統(tǒng)UltraTran

□ 飛行時間法遷移率測量儀FlyTOF

□ 多通道光伏器件穩(wěn)定性測量儀PVLab

□ 光探測器綜合測量儀FineDet 990

□ 有機發(fā)光分子取向儀AngleLum

□ 半導(dǎo)體光源Pina/NanoQ/Mic/Tuna

□ 多功能樣品夾具HiSam

□ 氣體變溫快速換樣系統(tǒng)MagicK

光譜產(chǎn)品線

□ 光電一體化時間分辨光譜儀HiLight 990

□ 穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀HiLight HS15

□ 熒光壽命測量儀HiLight T30

□ 瞬態(tài)電致發(fā)光光譜儀HiLight E60

□ 熒光光譜儀HiLight S20

□ 寬時域時間分辨單光子計數(shù)器HiTime

□ 納秒瞬態(tài)吸收（激光閃光光解）光譜儀NanoFly

□ 飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀FemtoFly

展開

光譜儀、光電檢測儀器、激光器、技術(shù)服務(wù)

詳細信息 在線詢價

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	化工,能源,電子,電氣

產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光測試儀、電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)、外量子效率測量系統(tǒng)、光譜功率分布（λ）測量系統(tǒng)、電功率密度測量系統(tǒng)、發(fā)光特性測試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)、光電特性測試、量子產(chǎn)率測量儀、積分球光譜測試儀、發(fā)光特性測量儀、IVLλ、有機發(fā)光二極管綜合性能測試系統(tǒng)、量子效率測試儀、量子效率測試系統(tǒng)

Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system

▌ 產(chǎn)品簡介

電致發(fā)光測量系統(tǒng)NovaLum是東譜科技HiOE穩(wěn)態(tài)綜合光電特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的性能進行精確測量。該系統(tǒng)包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電致發(fā)光器件全面的性能參數(shù)，如電致發(fā)光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩(wěn)定性、發(fā)光角度分布等相關(guān)性能參數(shù)。該設(shè)備很好地解決了行業(yè)上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用于易老化器件的測試，也不適宜用于寬亮度范圍的器件測試；（2）利用積分球系統(tǒng)測試時，無法得到準確的前向亮度參數(shù)，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發(fā)光樣品進行測試等的問題。

▌ 產(chǎn)品特點

□ 可以得到準確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點LED、顯示屏等面光源的測量。

□ 配備自動化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發(fā)光的空間分布特性。

□ 配備了穩(wěn)定性測試功能，進行老化測試，具有寬的亮度檢測范圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）。

□ 可以進行各種環(huán)境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉(zhuǎn)移測試等，同時可以實現(xiàn)手套箱內(nèi)快速換樣測試。

□ 配備自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換等系統(tǒng)，可以極大地提升測試效率。

▌ 產(chǎn)品功能

□ 多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時間掃描。

□ 分段循環(huán)電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應(yīng)等。

□ 實時測量：可以實時單點測量，靈活判斷器件的工作情況。

□ 兩線/四線測量：四線測量可更加準確地測量器件的電流電壓。

□ 自動切換器件：通過軟件選擇測量的子器件。

□ 自動積分時間：避免因為亮度過低導(dǎo)致測不出信號、或亮度過高導(dǎo)致的過曝的問題。

□ 配備可視化實時觀察及位移系統(tǒng)：在軟件中可以實時觀察到器件的表面發(fā)光情況，可軟件操作對焦。

□ 自動保存數(shù)據(jù)：測量過程中自動保存數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)丟失等狀況。

▌ 規(guī)格參數(shù)

亮度測量		光譜測量
亮度范圍	0.01~9,999,000 cd/m^2	波長范圍	200-850nm 或者 350-1000nm
測試角	1/3°	積分時間	4 ms - 10 s
視角	9°	動態(tài)范圍	1300:1
相對光譜敏感度	匹配 CIE 光譜發(fā)光效率函數(shù) V (λ)	校準線性度	>99.8%
最小測量面積 ?	4.5 mm (0.4mm)	光學分辨率	~1.5 nm (FWHM)
最短測量距離	1012mm (213mm)	電流電壓測量
測量時間	AUTO：0.7~4.3 s	電壓范圍/分辨率	-210V~210V/100nV
測量時間	MANUAL：0.7~7.1 s	電流范圍 /分辨率	-1.05A~1.05A/1pA