Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/21 10:03:19
- 訪問(wèn)次數(shù) 1281
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡材料表征
先進(jìn)的材料表征實(shí)驗(yàn)室需要使用新技術(shù)，且將分析儀器（包括 SEM掃描電鏡）的性能發(fā)揮到頂。這些實(shí)驗(yàn)室中絕大多數(shù)都是多用戶使用，且不同用戶的經(jīng)驗(yàn)水平不盡相同，同時(shí)，掃描電鏡的上機(jī)時(shí)間非常寶貴，因此必須避免在維護(hù)、對(duì)中、培訓(xùn)或圖像優(yōu)化上花費(fèi)過(guò)多時(shí)間。
全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進(jìn)行高分辨率成像，并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。憑借實(shí)時(shí)元素成像功能，即 Thermo Scientific ColorSEM 技術(shù)，可以通過(guò)最直觀的界面實(shí)時(shí)獲取元素組分信息。ColorSEM 技術(shù)消除了與典型 EDS聯(lián)用的所有復(fù)雜操作，為您提供快捷和易用性。
憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(shù)（軟件自動(dòng)光學(xué)對(duì)中），Apreo 2 SEM 對(duì)用戶和實(shí)驗(yàn)室管理人員的要求非常低。此外，Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)電子束對(duì)中、消像散和聚焦等操作，這項(xiàng)技術(shù)的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的性能。此外，Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果，使用 Apreo 2 SEM，任何人都能容易地獲得出色的結(jié)果。
主要特點(diǎn)：
優(yōu)異的空間分辨率及襯度
高分辨率——對(duì)于大多數(shù)樣品都能達(dá)到納米或亞納米級(jí)別的空間分辨率。采用鏡筒內(nèi)同步成像、信號(hào)過(guò)濾、復(fù)合透鏡等技術(shù)，幫助提升性能，達(dá)到最佳的分辨率。
廣泛的樣品適用性
對(duì)于多種樣品類型都有樣品靈活性，包括絕緣體、敏感材料、磁性材料等等。這樣的靈活性幫助用戶獲取感興趣樣品的更多的數(shù)據(jù)。
利用ColorSEM技術(shù)實(shí)時(shí)獲取定量能譜數(shù)據(jù)
只需指尖輕輕點(diǎn)擊就可以獲取元素信息，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)定量面分布，帶來(lái)體驗(yàn)與易用性。
快速簡(jiǎn)便的樣品裝載過(guò)程
標(biāo)配的樣品臺(tái)可以一次性容納多個(gè)樣品，抽真空過(guò)程控制到最短時(shí)間，保證進(jìn)樣過(guò)程不浪費(fèi)時(shí)間，更加便利地裝載樣品。同時(shí)配備自動(dòng)插拔的壓差光闌（PLA）可以實(shí)現(xiàn)高真空與低真空模式之間在毋須開樣品倉(cāng)的條件下一鍵切換。
高度自動(dòng)化
高度自動(dòng)化技術(shù)包含F(xiàn)LASH技術(shù)（用于自動(dòng)圖像微調(diào)）、撤銷、用戶教程、圖像傾斜與拼接。
大工作距離成像
市場(chǎng)上在大工作距離（10mm）下仍然保持高空間分辨率（1nm)性能和優(yōu)異的圖像質(zhì)量的掃描電鏡，即使對(duì)于新手用戶，也極易上手操作。
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡規(guī)格
Apreo 2 S | Apreo 2 C | |
分辨率 |
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標(biāo)配探測(cè)器 |
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PivotBeam |
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選配探測(cè)器 |
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ColorSEM技術(shù)（選配） |
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著陸能量范圍 |
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樣品臺(tái)偏壓（樣品臺(tái)減速） |
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低真空模式 |
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樣品臺(tái) |
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最大束流 |
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標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái) |
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樣品倉(cāng) |
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