V-700E 超聲波探傷儀
- 公司名稱 安賽斯（北京）科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) V-700E
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/16 15:01:34
- 訪問(wèn)次數(shù) 1890
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超聲波掃描顯微鏡，X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)，工業(yè)CT，水浸超聲C掃描系統(tǒng)，氣體發(fā)生器，離心機(jī)，勻膠機(jī)烤膠機(jī)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 數(shù)字式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 交通,冶金,航天,汽車,電氣 |
V-700E超聲波探傷儀應(yīng)用領(lǐng)域：
半導(dǎo)體電子行業(yè)：半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；
生物醫(yī)學(xué)：活體細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等
超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應(yīng)用：
晶圓面處分層缺陷
錫球、晶圓、或填膠中的開裂
晶圓的傾斜
各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）
超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢(shì)：
非破壞性、無(wú)損檢測(cè)材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)
可分層掃描、多層掃描
實(shí)施、直觀的圖像及分析
缺陷的測(cè)量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計(jì)
可顯示材料內(nèi)部的三維圖像
對(duì)人體是沒有傷害的
可檢測(cè)各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）
V-700E超聲波探傷儀主要參數(shù):
- 該型號(hào)超聲波掃描顯微鏡分析系統(tǒng)，用于檢測(cè)大件樣品
- 大掃描速度：2000 mm/s
- 與其它品牌相比掃描效率高30%
- 大掃描范圍：700mm×600mm
- 小掃描范圍：200μm×200μm
- 帶寬：550MHz
- 大放大倍數(shù)：625倍
- 新型FCT換能器
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