NM-300 優(yōu)可測衍射三維形貌儀

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 板石智能科技（深圳）有限公司
品牌 優(yōu)可測
型號 NM-300
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2023/10/10 9:35:15
訪問次數(shù) 228

產(chǎn)品標簽

三維形貌檢測膜厚檢測薄膜厚度測量占空比測量側(cè)壁角測量

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白光干涉儀，三維形貌測量儀，表面輪廓儀，臺階儀，粗糙度儀

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產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價格區(qū)間	面議
應用領域	生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,航空航天,綜合	三維形貌測量重復性	＜0.5nm
膜厚測量重復性	0.01nm	折射率重復性	0.0005

ATOMETRICS優(yōu)可測是板石智能旗下專注于高精測量領域的國產(chǎn)自主品牌，致力為半導體、精密光學、新能源、3C消費類電子、醫(yī)療、刀具、航空航天等行業(yè)和高校提供三維測量產(chǎn)品、解決方案及相關服務，產(chǎn)品精度覆蓋到微米、納米甚至亞納米級，滿足生產(chǎn)、研發(fā)和品控過程中表面粗糙度、臺階、3D形貌、三維形貌比對、高度、平面度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等各種測量需求。優(yōu)可測衍射三維形貌儀，光柵尺寸新一代測量解決方案，可測膜厚、占空比、側(cè)壁角等，廣泛應用于光通訊硅波導、生物芯片、NAND、AR/VR結(jié)構(gòu)光柵、DRAM、光學薄膜等，可測多種形貌結(jié)構(gòu)，可根據(jù)客戶不同光柵類型和場景提供客制化。