手動(dòng)簡(jiǎn)易探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片與器件，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成對(duì)半導(dǎo)體器件的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。主要通過連接儀器及待測(cè)物實(shí)現(xiàn)器件的參數(shù)提取，通過自帶的驅(qū)動(dòng)及測(cè)試軟件能夠獨(dú)立實(shí)現(xiàn)器件的電學(xué)特性測(cè)試，為精密器件提供一個(gè)良好的系統(tǒng)平臺(tái)。手動(dòng)簡(jiǎn)易探針臺(tái)可以搭配多種測(cè)試儀器使用，比如示波器，頻譜儀，IV等等。

通過探針接觸的方法給器件施加光電信號(hào)來測(cè)量半導(dǎo)體器件伏安特性（即電壓-電流特性）的儀器，在測(cè)量及選用半導(dǎo)體器件時(shí)有著廣泛的用途。

特點(diǎn)

-可選配高溫測(cè)試環(huán)境

-可選直筒顯微鏡和體式顯微鏡

-載物臺(tái)可Z軸升降

-載物臺(tái)Theta可粗調(diào)360°，微調(diào)±7°

-載物臺(tái)XY移動(dòng)分辨率為1um。

-可選配高壓高流測(cè)試環(huán)境

-快速裝片并可任意位置鎖定功能

-顯微鏡支架萬向桿

可選配件

-射頻測(cè)試探頭及電纜

-低漏電電流/電容測(cè)試

-激光修復(fù)

-探針卡/封裝/PCB 板夾具

-有源探頭

-高壓高流模塊

-高清數(shù)字相機(jī)

-Hot Chuck

-載物臺(tái)水平調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)

兼容儀器

-各種型號(hào)示波器

-各品牌半導(dǎo)體參數(shù)分析儀，博測(cè)，是德，泰克，概倫等

-各種品牌的網(wǎng)絡(luò)分析儀，是德，羅德施瓦茨， 思儀等

-各種品牌型號(hào)的源表

也可使用自己搭建的半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。

應(yīng)用領(lǐng)域

-Failure analysis 集成電路失效分析

-Wafer level reliability 晶元可靠性認(rèn)證

-Device characterization 元器件特性量測(cè)

-Process modeling 塑性過程測(cè)試(材料特性分析)

-IC Process monitoring 制成監(jiān)控

-Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試

-ESD&TDR testing ESD和TDR測(cè)試

-Microwave probing 微波量測(cè)(高頻測(cè)試)

-Solar太陽能領(lǐng)域檢測(cè)分析

-LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析

-PCB領(lǐng)域檢測(cè)分析

-VESEL DFB,COC,硅光等光電器件測(cè)試

可根據(jù)具體需求定制，大部分需求都可滿足，歡迎聯(lián)系！