安捷倫4155A 4155B 4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
| 參考價(jià) | ￥ 25324 |
| 訂貨量 | ≥2件 |
- 公司名稱 桂陽(yáng)縣恒昌電子設(shè)備經(jīng)營(yíng)部
- 品牌 Agilent/安捷倫
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2023/9/22 14:37:10
- 訪問(wèn)次數(shù) 105
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光學(xué)儀器(光譜分析儀、光功率計(jì)、光源、光萬(wàn)用表、光示波器等)、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、（手機(jī)/無(wú)線）綜合測(cè)試儀、天饋線測(cè)試儀（駐波比測(cè)試儀）、信號(hào)發(fā)生器、LCR測(cè)試儀、示波器、電源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀等高頻儀器儀表。
| 保修期限 | 2年 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品成色 | 8成新 | 使用年限 | 4-5年 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣 |
安捷倫4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 何S：158=8930=0166
安捷倫4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
深圳佳捷倫電子儀器有限公司
Agilent 4155A 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀提供高分辨率/準(zhǔn)確度和寬范圍；I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度），V：1 微 V 至 100 V，采用直流或脈沖模式的全自動(dòng) IV 掃描測(cè)量，可擴(kuò)展至 6 個(gè) SMU，同步應(yīng)力/測(cè)量功能，兩個(gè)高壓脈沖發(fā)生器單元 (+/- 40 V)，時(shí)域測(cè)量：60 微秒 - 可變間隔，最多 10,001 個(gè)點(diǎn)，易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動(dòng)分析功能和自動(dòng)化：內(nèi)置 HP儀器 BASIC，觸發(fā) I/Q 功能。
主要特點(diǎn)
兩個(gè)高壓脈沖發(fā)生器單元 (+/- 40 V)
時(shí)域測(cè)量：60 微秒 - 可變間隔高達(dá) 10,001 點(diǎn)
易于使用的旋鈕掃描，類似于曲線跟蹤器
自動(dòng)分析功能
內(nèi)置安捷倫/惠普儀器 BASIC
觸發(fā) I/Q 能力
4145B半導(dǎo)體參數(shù)分析儀設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體的生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室，HP4145B是電子工業(yè)中***個(gè)可以獨(dú)立對(duì)半導(dǎo)體器件和材進(jìn)行直流參數(shù)的儀器。HP4145B通過(guò)對(duì)器件加電壓，測(cè)電流，HP4145B或加電流測(cè)電壓
并將測(cè)試結(jié)果顯示在內(nèi)置的CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。
主要特點(diǎn)
在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測(cè)驗(yàn)證與報(bào)告，有利于保持高速生產(chǎn)效率
可以通過(guò)該儀器的前置面板或通過(guò)GPIB遠(yuǎn)程控制接觸檢測(cè)操作
內(nèi)置的“源存儲(chǔ)器”可編程序列發(fā)生器***多可存儲(chǔ)100個(gè)不同的測(cè)試，以滿足高速生產(chǎn)的需要
高達(dá)75000小時(shí)MTBF的可靠性設(shè)計(jì)，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性
內(nèi)置的比較器簡(jiǎn)化了pass/fail測(cè)試
數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機(jī)械手
0.012%的***度，5?的分辨率
HP4145B半導(dǎo)體參數(shù)分析儀設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體的生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室，HP4145B是電子工業(yè)中 個(gè)可以獨(dú)立對(duì)半
導(dǎo)體器件和材料進(jìn)行直流參數(shù)的儀器。HP4145B通過(guò)對(duì)器件加電壓，測(cè)電流，HP4145B或加電流測(cè)電壓并將
測(cè)試結(jié)果顯示在內(nèi)置的CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。
主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)：
在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測(cè)驗(yàn)證與報(bào)告，有利于保持高速生產(chǎn)效率
可以通過(guò)該儀器的前置面板或通過(guò)GPIB遠(yuǎn)程控制接觸檢測(cè)操作
內(nèi)置的“源存儲(chǔ)器”可編程序列發(fā)生器 多可存儲(chǔ)100個(gè)不同的測(cè)試，以滿足高速生產(chǎn)的需要
高達(dá)75000小時(shí)MTBF的可靠性設(shè)計(jì)，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性
內(nèi)置的比較器簡(jiǎn)化了pass/fail測(cè)試
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