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SCD-1500型半導體C-V特性分析儀

參考價 1200
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準

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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司是一家主要是從事精密儀器設備,安全控制設備,計量檢測設備,科學研究設備,3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售的 高科技公司,我們將同國內(nèi)單位和高等院校合作,服務于國內(nèi)和國外廣大客 戶,我們將提供更多優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)服務,共同開拓進取。

 

我們主要經(jīng)營的產(chǎn)品有:
1、壓電材料測試儀:ZJ-3型d33測量儀,ZJ-4型壓電測試儀,ZJ-5型積層壓電測試儀,ZJ-6型d33d/d31/d15型準靜態(tài)系數(shù)測量儀

2、鐵電測試儀:ZT-4A型鐵電測試儀,ZT-4C型鐵電測試儀,JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)

3、介電測試儀:低溫介電測試儀,高溫介電測試儀,高低溫介電測試儀

4、熱電材料測試儀:熱電效應測試儀

 

壓電測試儀,準靜態(tài)d33測量儀,d33測量儀,介電測量系統(tǒng),壓電測量系統(tǒng),鐵電材料測試儀

SCD-1500型半導體C-V特性分析儀

關(guān)鍵詞:半導體,C-V特性,集成電路


   

SCD-1500型半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù),適用于生產(chǎn)線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發(fā)及分析。半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz,VGS電壓可達±40V,足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。

一、主要應用范圍:

半導體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

半導體材料
晶圓、C-V特性分析

液晶材料
彈性常數(shù)分析

二、性能特點:

通道:2(可擴展至6

高偏置:VGS0 - ±40VVDS0200V,1500V,3000V

CPU架構(gòu),最短積分時間0.56ms1800/秒)

10.1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800,Linux系統(tǒng)

點測、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測試方式

四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg)同屏顯示

快速導通測試Cont

一體化設計:LCR+高壓源+繼電器矩陣

快速充電,縮短電容充電時間,實現(xiàn)快速測試

自動延時設置

10檔分選

三、功能特點

A.單點測試,10.1英寸大屏,四種寄生參數(shù)同屏顯示,讓細節(jié)一覽無遺

10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率,Linux系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標、LAN接口,帶來了無以倫比的操作便捷性。

MOSFET最重要的四個寄生參數(shù):Ciss、CossCrss、Rg在同一個界面直接顯示測量結(jié)果,并將四個參數(shù)測試等效電路圖同時顯示,一目了然。

多至6個通道測量參數(shù)可快速調(diào)用,分選結(jié)果在同一界面直接顯示。

B.列表測試,靈活組合

SCD-1500型半導體C-V特性分析儀支持最多6個通道、4個測量參數(shù)的測試及分析,列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測量條件任意組合,并可設置極限范圍,并顯示測量結(jié)果 。


C.曲線掃描功能(選件)

SCD-1500型半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描,可同時顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。

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C.曲線掃描功能(選件)

SCD-1500型半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描,可同時顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。


D.簡單快捷設置


E.10檔分選及可編程HANDLER接口

儀器提供了10檔分選,為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級提供了可能,分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。

在與自動化設備連接時,怎么配置HANDLER接口輸出,一直是自動化客戶的難題,TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應信號、應答方式等可視化,讓自動化連接更簡單。


F.支持定制化,智能固件升級方式

SCD-1500型半導體C-V特性分析儀客戶而言是開放的,儀器所有接口、指令集均為開放設計,客戶可自行編程集成或進行功能定制,定制功能若無硬件更改,可直接通過固件升級方式更新。

儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等,都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新,而無需返廠進行。

固件升級非常智能,可以通過系統(tǒng)設置界面或者文件管理界面進行,智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級包,并自動進行升級

G.半導體元件寄生電容知識

在高頻電路中,半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態(tài)特性,所以在設計半導體元件時需要考慮下列因數(shù)在高頻電路設計中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響;MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅(qū)動能力和開關(guān)損耗等多方面特性;寄生電容的電壓依賴性在電路設計中也是至關(guān)重要,以MOSFET為例。


技術(shù)參數(shù)

1、通道:2通道(可擴展6通道)

2、顯示:液晶顯示,觸摸屏

3、 測量參數(shù):C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、|Z|、|Y|

4、測試頻率:10kHz-2MHz

5、 精度:0.01%

6、分辨率:10mHz  1.00000kHz-9.99999kHz

7、電壓范圍:5mVrms-2Vrms

8、精度:±10%×設定值+2mV

9、 VGS電壓: ±40V,準確度:1%×設定電壓+8Mv,分辨率;1mV(0V-±10V)

10、 VDS電壓:0 - 200V

11、精度:1%×設定電壓+100mV

12、 1%×設定電壓+100mV

13、輸出阻抗:100Ω±2%@1kHz

14、軟件:C-V特性曲線分析,對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描


 



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