靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
ContourX-200光學輪廓儀融合了表征、可定制選項和易用性等特點,可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。ContourX-200還配有分析軟件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能,可訪問多種預編程濾鏡和分析工具,用于加工的表面,薄膜,半導體,眼科,醫(yī)療設(shè)備,MEMS和摩擦學等領(lǐng)域的測量分析。
高性能表面計量
* 與放大倍率無關(guān)的Z軸分辨率
* 大尺寸的標準視場
* 穩(wěn)定集成防震設(shè)計
高性能測量與分析功能
* 易于使用的界面,可快速準確地獲得結(jié)果
* 自動化功能用于日常測量和分析
* 廣泛的濾鏡和分析工具選項,用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析
* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告