HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀（近紅外靈敏型）
- 公司名稱 KEWLAB-杭州秋籟科技有限公司
- 品牌 KEWLAB/澳洲
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/21 11:44:49
- 訪問次數(shù) 1808
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離心機(jī)，顯微鏡，磁力攪拌器，移液器，天平，混勻器，超聲波清洗機(jī)，冷水機(jī)，水分儀，里氏硬度計(jì)，工業(yè)內(nèi)窺鏡，COD消解器，超聲波細(xì)胞破碎儀，激光光束分析儀，光源，積分球，光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)棱鏡，光學(xué)透鏡，晶體光學(xué)，平面光學(xué)窗口和反射鏡基底等光學(xué)儀器和元件
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器原理 | 濾光片型 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 在線 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀（近紅外靈敏型）配置了濱松面陣背照式CCD傳感器，具有出色的信噪比（SNR）性能800: 1，非常適合于弱光譜測(cè)量的應(yīng)用。該系列提供紫外靈敏型和紅外靈敏型兩個(gè)版本。
HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀（近紅外靈敏型），搭載了濱松S11510面陣背照式CCD，提升了700-1100nm范圍內(nèi)的靈敏度，尤其在800nm-1100nm的波段，非常適合拉曼和其它近紅外弱光譜的測(cè)量。
HS-VIS-NIR-CL的探測(cè)器響應(yīng)范圍為200-1100nm，用戶可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍，以滿足不同的應(yīng)用需求。支持二次開發(fā)、觸發(fā)控制, 另外針對(duì)其它波段350-1050nm/550-750nm/650-850nm等，可以提供OEM定制。
特點(diǎn)
結(jié)構(gòu)緊湊，便于攜帶與系統(tǒng)集成
交叉非對(duì)稱C-T光路結(jié)構(gòu)，有效抑制雜散光
提升了700-1100nm范圍內(nèi)的靈敏度
高靈敏響應(yīng)，實(shí)現(xiàn)弱光探測(cè)
多種狹縫、透鏡、光柵可選，搭配靈活
USB通信，即插即用，高速傳輸
支持二次開發(fā)，支持OEM集成
應(yīng)用
拉曼光譜測(cè)量
熒光光譜測(cè)量
水質(zhì)和氣體監(jiān)測(cè)
UV-VIS弱光譜測(cè)量
規(guī)格：
| 探測(cè)器 | 濱松S11510系列 面陣背照式CCD |
|---|---|
| 波長范圍 | 750-1100nm |
| 工作溫度 | 5℃ -35℃（推薦溫度25℃） |
| 像素 | 2048×64個(gè)像元，像元尺寸14µm×14µm |
| 狹縫 | 10μm |
| 光學(xué)分辨率 | ~0.35nm |
| 信噪比 | 800:1 |
| 線性度 | >99% |
| 雜散光 | ≤0.1% (400nm) |
| A/D | 16 bit |
| 積分時(shí)間 | 1ms - 10s |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | 50000：1（典型值） |
| 功耗 | 500mA，5VDC |
| 通信接口 | USB2.0，RS232 |
| 外觸發(fā)模式 | 軟件觸發(fā)，硬件觸發(fā)，同步觸發(fā) |
| 光纖接口 | SMA905 |
| 電源 | USB 或 5VDC |
| 尺寸 | 165mm x 110mm x 38mm |
| 儀器重量 | 0.7 Kg |
| 微軟操作系統(tǒng) | Win XP, Win7,Win8, Win10 |
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