HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀
- 公司名稱 KEWLAB-杭州秋籟科技有限公司
- 品牌 KEWLAB/澳洲
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/4/9 9:48:59
- 訪問次數(shù) 1163
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離心機(jī)，顯微鏡，磁力攪拌器，移液器，天平，混勻器，超聲波清洗機(jī)，冷水機(jī)，水分儀，里氏硬度計，工業(yè)內(nèi)窺鏡，COD消解器，超聲波細(xì)胞破碎儀，激光光束分析儀，光源，積分球，光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)棱鏡，光學(xué)透鏡，晶體光學(xué)，平面光學(xué)窗口和反射鏡基底等光學(xué)儀器和元件
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀采用高分辨率光機(jī)平臺，配置先進(jìn)的線陣探測器，是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的探測器響應(yīng)范圍為315-1100nm，用戶可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍，以滿足不同的應(yīng)用需求。另外針對其它波段300-750nm/380-900nm/800-1000nm等，可以提供OEM定制。
性能特點(diǎn)：
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結(jié)構(gòu)緊湊，便于攜帶與系統(tǒng)集成
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交叉非對稱C-T光路結(jié)構(gòu)，干涉濾光片消二級衍射，有效抑制雜散光
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315～1100nm寬光譜響應(yīng)均衡
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高靈敏響應(yīng)，實(shí)現(xiàn)弱光探測
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多種狹縫、透鏡、光柵可選，搭配靈活
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USB通信，即插即用，高速傳輸
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支持二次開發(fā)，支持OEM集成
應(yīng)用領(lǐng)域：
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激光器中心波長測量
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透射/反射測量
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輻射測量
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吸光度測量
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薄膜測量
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顏色測量
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熒光測量
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激光光譜測量
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太陽光譜測量
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LIBS光譜測量
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生化、醫(yī)學(xué)分析
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農(nóng)業(yè)與食品檢測
-
水質(zhì)分析檢測
| 探測器 | TOSHIBA TCD1304線陣CCD |
|---|---|
| 波長范圍 | 700nm-1100nm |
| 工作溫度 | 5℃ -35℃（推薦溫度25℃） |
| 像素 | 3648像素，每個像元8µm ×200 µm |
| 狹縫 | 5μm |
| 光學(xué)分辨率 | ~0.3nm |
| 信噪比 | 300:1全光譜 |
| 線性度 | >99% |
| 雜散光 | <0.1% (600nm, 435nm) |
| A/D | 16 bit |
| 積分時間 | 4ms - 10s |
| 動態(tài)范圍 | 300:1 |
| 功耗 | 250 mA, 5 VDC |
| 通信接口 | USB2.0（12Mbps） RS232（115200bps） |
| 外觸發(fā)模式 | 軟件觸發(fā)，硬件觸發(fā)，同步觸發(fā) |
| 光纖接口 | SMA905 |
| 電源 | USB 或 5VDC |
| 尺寸 | 140mm x 110mm x 46mm |
| 儀器重量 | 0.7 Kg |
| 微軟操作系統(tǒng) | Win XP, Win7,Win8, Win10 |
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