簡介：

布魯克大樣品臺(tái)AFM Dimension 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的AFM應(yīng)用體驗(yàn)，其測試功能強(qiáng)大，操作簡便易行。仍然以世界上應(yīng)用廣泛的AFM大樣品平臺(tái)為基礎(chǔ)，齊集Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進(jìn)行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。Dimension Icon還配備了Bruker技術(shù)ScanAsyst(自動(dòng)掃描成像模式)，用戶可以簡易快捷地獲得重復(fù)性更好的數(shù)據(jù)，并且降低了對(duì)客戶操作經(jīng)驗(yàn)和操作水平的要求。作為目前配置ZG的AFM，保證客戶高效完成所需的檢測任務(wù)。

優(yōu)勢：

1、性能：的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺(tái)、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有掃描分辨率。極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級(jí)圖像。

熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像

2、高效率：XYZ閉環(huán)掃描器的設(shè)計(jì)，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率。將十年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認(rèn)的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ?。高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置。

3、全功能：針尖和樣品之間開放式的空間設(shè)計(jì)，不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)，也可以自行設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，滿足不同研究工作的需求。硬件和軟件技術(shù)方面的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX模式，可以測量納米尺度上材料性質(zhì)用戶實(shí)用程序腳本提供半自動(dòng)測量方案和數(shù)據(jù)分析。

案例：

表現(xiàn)：

使用 Dimension 系列原子力顯微鏡發(fā)表文章數(shù)目遠(yuǎn)遠(yuǎn)多于其他大樣品臺(tái)原子力顯微鏡，成為科研領(lǐng)域的原子力顯微鏡型號(hào)之一。布魯克大樣品臺(tái)AFM Dimension lcon在原有的操作平臺(tái)上引入技術(shù)，擁有更高的成像功能和更快的測量速度，更好的人機(jī)結(jié)合界面，與以往的任何AFM技術(shù)相比，其測量成像過程都更加簡便快捷。Dimensionlcon用戶無需進(jìn)行傳統(tǒng)的AFM 操作需要幾小時(shí)儀器調(diào)試和儀器預(yù)熱，就可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果。Dimmension lcon從開放式針尖樣品空間，到軟件參數(shù)設(shè)置都經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)，為成功實(shí)現(xiàn)上述功能。

每分鐘少于 200pm 的熱漂移速率，全新直觀的用戶界面， Dimension AFM平臺(tái)，三者結(jié)合為這臺(tái)儀器提供了操作性能，保證你在短時(shí)間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版。

獲得夢寐以求的研究方案:

在科學(xué)技術(shù)迅猛發(fā)展的今天，科研人員需要迅速發(fā)現(xiàn)研究工作中的每一個(gè)突破口，抓住機(jī)遇取得實(shí)驗(yàn)進(jìn)展，以求立于不敗之地。除了擁有敏銳的科研洞察力，還要配備得心應(yīng)手的研究設(shè)備和研究工具。Dimension lcon 就是 Bruker 為您提供的一款強(qiáng)大平臺(tái)。擁有低噪音的閉環(huán)掃描器，更高的分辨率，更快地獲取數(shù)據(jù)的速率，和當(dāng)前大的AFM 控制器，幫助您完成實(shí)驗(yàn)設(shè)想，甚至得到意想不到的數(shù)據(jù)。

l 材料成像:Icon支持Bruker技術(shù)PeakForce ONMI成像模式，研究者在獲得高分辨率形貌圖像的同時(shí)，還可以對(duì)樣品進(jìn)行納米定量力學(xué)性能測試，同時(shí)獲得高分辨成像。此技術(shù)適用范圍很廣(模量從1MPa到 50GPa,粘附力從10pN到10uN)，可以對(duì)不同類型的樣品進(jìn)行表征。

l 電學(xué)表征:模式，可以以更高的靈敏度和更大的動(dòng)態(tài)范圍上實(shí)現(xiàn)電學(xué)表征。把這些研究與其他技術(shù)結(jié)合起來，比如Dark Lif，可在掃描電容顯微鏡，掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡，扭轉(zhuǎn)共振隧道電流原子力顯微鏡中獲得真正的無假象數(shù)據(jù)。

l 納米操縱:可實(shí)現(xiàn)在納米和分子級(jí)別的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環(huán)掃描器可實(shí)現(xiàn)無壓電蠕變效應(yīng)和超低噪音的精密探針定位，適用于任何納米操縱系統(tǒng)。

l 加熱和冷卻:使用AFM不同模式掃描的同時(shí)，可實(shí)現(xiàn)-35°C到 250°C的溫度控制和熱分析。使用熱探針可以在小于100nm的樣品局部加熱，達(dá)到400°℃。