8800M MAX 立式X熒光材料分析光譜儀
- 公司名稱 蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 英飛思
- 型號(hào) 8800M MAX
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/10/30 9:56:54
- 訪問次數(shù) 848
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光譜儀,熒光光譜儀,XRF,Rohs檢測(cè)儀,合金分析儀,測(cè)金儀,測(cè)硫儀,古董分析儀,礦石分析儀,土壤分析儀,測(cè)厚儀,手持式光譜儀,鍍層測(cè)厚儀
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,地礦,能源,冶金,綜合 |
EDX-8800M MAX XRF Spectrometer
立式X熒光光譜儀
材料分析專家
Simply the Best
>立式一體化設(shè)計(jì),搭配全新高功率樣品激發(fā)系統(tǒng)和高計(jì)數(shù)率探測(cè)器
>內(nèi)置真空泵及氦氣充氣系統(tǒng)適應(yīng)各種材料成分分析,包括固體,液體,合金,粉末和泥漿
>分析涵蓋范圍11Na鈉 到 92U鈾(元素周期表),可分析氧化物。
>超大鈹窗高分辨探測(cè)器配合多組合濾光片系統(tǒng),有效提高微量元素檢出限
>可搭載樣品自旋平臺(tái),有效提高樣品測(cè)量面積
>提供多種數(shù)據(jù)訪問接口,可兼容LIMS實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)
EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀-材料分析專家
作為一款立式X射線熒光(EDXRF)材料分析儀,EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng),同時(shí)搭配了高計(jì)數(shù)率和高分辨率的FSDD探測(cè)器,它提供了出色的線性動(dòng)態(tài)范圍,可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。
ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場(chǎng)所。
EDX8800M MAX專注于對(duì)各種材料的主量,微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析,廣泛應(yīng)用于:合金材料,貴金屬,鐵礦粉,有色金屬及粉末,冶金,金屬及非金屬礦物礦產(chǎn),耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業(yè)、石英、長(zhǎng)石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、爐渣等生產(chǎn)原料及成品化學(xué)成分定性定量快速分析,快速準(zhǔn)確無損高效環(huán)保,無需酸堿化學(xué)藥劑。
EDX8800M MAX應(yīng)用方向
>RoHS篩選測(cè)試,有害金屬快速篩查
>石油化工:燃料,潤滑油監(jiān)測(cè),添加劑,磨損金屬等中的硫元素分析
>環(huán)境:廢水,空氣污染,土壤和地面,排放控制
>涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質(zhì)
>刑偵及公安:證據(jù)分析,材料匹配,爆炸物
>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,包裝材料
>科研,高校,材料研發(fā)
產(chǎn)品特點(diǎn)
•配備Peltier電制冷的FSDD硅漂移檢測(cè)器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期重現(xiàn)性,而且具有出色的元素峰分辨率
•能同時(shí)進(jìn)行元素和氧化物成分分析
•特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P)的測(cè)試靈敏度和準(zhǔn)確性??赏瑫r(shí)選配氦氣系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)液體和粉末樣品的直接測(cè)試
•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換,亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差
•高清內(nèi)置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位
•可搭載樣品自旋平臺(tái),增加樣品檢測(cè)面積,提高測(cè)試準(zhǔn)確度和精密度。
搭載自旋平臺(tái)EDX8800 MAX結(jié)構(gòu)圖
英飛思專用光譜儀成分分析軟件
英飛思軟件內(nèi)核-軟件核心算法包括FP基本參數(shù)法,Sherman方程EC經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法,阿爾法α理論參數(shù)法。依托于英飛思強(qiáng)大而穩(wěn)定的硬件系統(tǒng),加載FP法核心后可以實(shí)現(xiàn)元素間增強(qiáng)吸收效應(yīng)的校正。
>能夠使用非類似標(biāo)樣標(biāo)定測(cè)試;減少分析需要的標(biāo)樣數(shù),可以用一個(gè)或幾個(gè)標(biāo)樣來分析寬范圍濃度變化的未知成分
>能量校準(zhǔn),波譜穩(wěn)定,自動(dòng)譜峰元素鑒別,死時(shí)間修正,和峰修正,逃逸峰修正,重疊修正,背景扣除
>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果
>光譜顯示:譜峰重疊比較,可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖
>多種光譜強(qiáng)度計(jì)算方法,高斯擬合,純?cè)財(cái)M合,FP擬合,凈面積,全面積
典型應(yīng)用測(cè)試報(bào)告
1合金應(yīng)用案例
采用壓片法制備樣品,硅鐵粉末樣品10次測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告
測(cè)量 | Si | Al | P | Ca | Cr | Fe | Ni | Cu | Ti | Mn |
硅鐵-1 | 74.1916 | 1.9012 | 0.0217 | 2.033 | 0.0486 | 20.7858 | 0.0112 | 0.0243 | 0.0427 | 0.2371 |
硅鐵-2 | 74.0861 | 1.8382 | 0.0228 | 1.9934 | 0.0426 | 20.8245 | 0.0106 | 0.0222 | 0.0411 | 0.216 |
硅鐵-3 | 74.1615 | 1.8326 | 0.0228 | 1.9874 | 0.0425 | 20.7617 | 0.0106 | 0.0221 | 0.0412 | 0.2153 |
硅鐵-4 | 74.1673 | 1.8954 | 0.0217 | 2.0269 | 0.0484 | 20.7231 | 0.0114 | 0.0242 | 0.0426 | 0.2364 |
硅鐵-5 | 74.1118 | 1.8289 | 0.0227 | 1.9834 | 0.0424 | 20.7198 | 0.0104 | 0.0221 | 0.0409 | 0.2149 |
硅鐵-6 | 74.1178 | 1.8916 | 0.0216 | 2.0228 | 0.0483 | 20.6813 | 0.0112 | 0.0239 | 0.0425 | 0.236 |
硅鐵-7 | 74.1516 | 1.8062 | 0.0217 | 2.0131 | 0.0486 | 20.7652 | 0.0113 | 0.0241 | 0.0421 | 0.2351 |
硅鐵-8 | 74.1861 | 1.8532 | 0.0228 | 1.9814 | 0.0426 | 20.8015 | 0.0108 | 0.0222 | 0.0413 | 0.2162 |
硅鐵-9 | 74.1715 | 1.9346 | 0.0228 | 1.9754 | 0.0425 | 20.7607 | 0.0106 | 0.0221 | 0.0415 | 0.2143 |
硅鐵-10 | 74.1373 | 1.8958 | 0.0217 | 2.027 | 0.0484 | 20.7212 | 0.0108 | 0.0243 | 0.0421 | 0.2394 |
平均值 | 74.14826 | 1.8678 | 0.0222 | 2.0043 | 0.0455 | 20.7545 | 0.0109 | 0.0232 | 0.0418 | 0.2261 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0343 | 0.0412 | 0.0006 | 0.0223 | 0.0031 | 0.0434 | 0.0004 | 0.0011 | 0.0007 | 0.0114 |
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn) | 4.64% | 3.91% | 0.05% | 2.11% | 0.29% | 4.11% | 0.03% | 0.10% | 0.06% | 1.07% |
壓片樣品制備步驟:研磨制樣-稱重-混入粘合劑-使用壓片機(jī)壓片-上機(jī)測(cè)試
2原材料應(yīng)用案例
采用熔片法制備樣品,石灰石樣品10次測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告
測(cè)量 次數(shù) | MgO | Al2O3 | SiO2 | S | K2O | CaO | MnO | Fe2O3 |
石灰石標(biāo)樣-1 | 0.511 | 0.101 | 0.338 | 0.095 | 0.044 | 91.166 | 0.008 | 0.115 |
石灰石標(biāo)樣-2 | 0.529 | 0.106 | 0.338 | 0.095 | 0.046 | 91.255 | 0.007 | 0.111 |
石灰石標(biāo)樣-3 | 0.524 | 0.104 | 0.348 | 0.089 | 0.045 | 91.038 | 0.008 | 0.113 |
石灰石標(biāo)樣-4 | 0.511 | 0.103 | 0.328 | 0.091 | 0.045 | 91.327 | 0.007 | 0.110 |
石灰石標(biāo)樣-5 | 0.523 | 0.103 | 0.348 | 0.093 | 0.044 | 90.883 | 0.007 | 0.106 |
石灰石標(biāo)樣-6 | 0.534 | 0.109 | 0.357 | 0.092 | 0.048 | 91.124 | 0.007 | 0.115 |
石灰石標(biāo)樣-7 | 0.515 | 0.098 | 0.346 | 0.091 | 0.045 | 91.143 | 0.008 | 0.110 |
石灰石標(biāo)樣-8 | 0.545 | 0.103 | 0.328 | 0.091 | 0.047 | 91.079 | 0.007 | 0.110 |
石灰石標(biāo)樣-9 | 0.531 | 0.104 | 0.348 | 0.098 | 0.045 | 90.722 | 0.007 | 0.114 |
石灰石標(biāo)樣-10 | 0.546 | 0.097 | 0.339 | 0.095 | 0.045 | 90.772 | 0.007 | 0.116 |
平均值 | 0.525 | 0.103 | 0.342 | 0.093 | 0.045 | 91.043 | 0.007 | 0.112 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0129 | 0.0034 | 0.0088 | 0.0026 | 0.0012 | 0.1916 | 0.0005 | 0.0031 |
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 2.46% | 3.31% | 2.59% | 2.78% | 2.67% | 0.21% | 6.85% | 2.78% |
快速熔片法樣品制備步驟:研磨制樣-稱樣-預(yù)氧化-加入熔樣試劑-熔片機(jī)熔片-冷卻-上機(jī)測(cè)試
3礦石應(yīng)用案例
采用熔片法制備樣品,石英砂10次測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告
測(cè)量 次數(shù) | MgO | Al2O3 | SiO2 | CaO | TiO2 | Fe2O3 |
石英石-1 | 0.0754 | 0.0921 | 99.5393 | 0.0784 | 0.0072 | 0.0311 |
石英石-2 | 0.0615 | 0.0856 | 99.4563 | 0.0792 | 0.0071 | 0.0296 |
石英石-3 | 0.0646 | 0.0825 | 99.4271 | 0.0783 | 0.0072 | 0.0326 |
石英石-4 | 0.0718 | 0.0896 | 99.3529 | 0.0781 | 0.0082 | 0.0312 |
石英石-5 | 0.0687 | 0.0754 | 99.383 | 0.0783 | 0.0079 | 0.0295 |
石英石-6 | 0.0792 | 0.0765 | 99.3696 | 0.0781 | 0.0069 | 0.033 |
石英石-7 | 0.0659 | 0.0797 | 99.4711 | 0.0783 | 0.0067 | 0.0286 |
石英石-8 | 0.0729 | 0.0803 | 99.5004 | 0.0789 | 0.0073 | 0.0301 |
石英石-9 | 0.0776 | 0.0761 | 99.43296 | 0.08 | 0.008 | 0.0311 |
石英石-10 | 0.0631 | 0.0819 | 99.4739 | 0.0783 | 0.0063 | 0.0306 |
平均值 | 0.07007 | 0.08197 | 99.440656 | 0.07859 | 0.00728 | 0.03074 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0062 | 0.0057 | 0.0595 | 0.0006 | 0.0006 | 0.0013 |
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn) 偏差 | 0.59% | 0.54% | 5.65% | 0.06% | 0.06% | 0.13% |
典型石英砂XRF光譜圖
材料檢測(cè)專家EDX8800M MAX
儀器參數(shù)
型號(hào) | EDX 8800M MAX |
機(jī)型 | 落地式 |
探測(cè)器 | FAST SDD (可選SUPER FAST SDD) |
X射線激發(fā)源 | ESI-G300 超薄鈹窗微焦斑0-2mA |
高壓系統(tǒng) | 0-70kV(低紋波)最小可調(diào):1kV |
多道分線器 | 數(shù)字4096道 |
樣品自旋平臺(tái)控制系統(tǒng) | 可擴(kuò)展(選配) |
真空系統(tǒng) | 內(nèi)置 |
自動(dòng)進(jìn)樣器 | 10/12/14杯位可選 |
應(yīng)用范圍 | 地礦,合金,土壤等 |
元素范圍 | 鈉Na11-鈾U92鈉鎂鋁硅檢出限高 |
可拓展元素 | 氟F9-镅Am95 |
主機(jī)接口 | USB3.0 |
攝像頭 | 可變焦高清攝像頭 |
氦氣充氣系統(tǒng) | 可擴(kuò)展(選配) |
輸入電壓 | 220V/20A |
電源外設(shè) | 穩(wěn)扦壓器帶凈化+隔離 |
儀器配置
>標(biāo)準(zhǔn)配置 | >可選配置-樣品前處理系統(tǒng) |
純Ag初始化標(biāo)樣 | 磨樣機(jī) |
真空泵(內(nèi)置) | 手動(dòng)壓片機(jī):ESI30T |
粉末樣品杯,液體樣品杯 | 自動(dòng)壓片機(jī):ESI30S |
USB數(shù)據(jù)線 | 油品專用樣品杯 |
電源線 | 烘干箱 |
XRF測(cè)試薄膜(粉末,液體,油品) | ESI-900型光譜分析專用全自動(dòng)熔樣機(jī) |
儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告 | 電子秤 |
保修卡 | 標(biāo)準(zhǔn)樣品 |
高精度交流凈化穩(wěn)壓電源 | 150目篩子 |