產(chǎn)品關(guān)鍵詞：多通道電致器件穩(wěn)定性測試、多通道電致器件壽命測試、電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)、多通道、電致發(fā)光器件老化系統(tǒng)、光譜功率分布（ λ）、光譜功率分布（ λ）、光通量、相關(guān)色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）、電功率密度

▌ 產(chǎn)品簡介

多通道電致發(fā)光特性測量系統(tǒng)EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，與東譜科技的電致發(fā)光特性測量系統(tǒng) HiYield 共同為行業(yè)提供了完善的電致發(fā)光的測量方案。該系統(tǒng)由一系列相應(yīng)的分布測量組件組成，包括光電測量模塊、亮度校準(zhǔn)模塊、光譜測量模塊等。利用該系統(tǒng)組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型器件的測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以便捷地擴(kuò)展測量通道數(shù)量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應(yīng)豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)

□ 多通道批量測量；

□ 可放進(jìn)手套箱內(nèi)測試；

□ 支持長時間的多個器件的老化測試；

□ 支持寬溫度范圍的變溫測試；

□ 全面的電致發(fā)光測量參數(shù)。

關(guān)于測試通道：可靈活定制不同數(shù)量的測試通道和功能，如：

■ 總測試通道：6 個

■ IVL 測試通道：5 個

■ 光譜測試通道：1 個

■ 老化（穩(wěn)定性）測試通道：5 個

■ 變溫測試通道：選配

▌ 產(chǎn)品功能

□ 發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率、電流效率、功率效率等；

□ 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率密度等；

□ 輻射度學(xué)參數(shù)： 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等 ；

□ 光度學(xué)參數(shù)：亮度、光通量等；

□ 色度學(xué)參數(shù)： CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1、顯色指數(shù)等 ；

□ 器件老化參數(shù)：不同老化時間下的上述參數(shù)；

□ 變溫測量等。

▌ 規(guī)格參數(shù)

▌ 產(chǎn)品應(yīng)用

□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）；

□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）；

□ 發(fā)光二極管（LED）；

□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）；

□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件。