HiYield-EL 東譜科技電致發(fā)光量子效率測量儀
- 公司名稱 東譜科技（廣州）有限責(zé)任公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HiYield-EL
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/11 10:22:22
- 訪問次數(shù) 365
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光測試儀、電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)、外量子效率測量系統(tǒng)、光譜功率分布（λ）測量系統(tǒng)、電功率密度測量系統(tǒng)、發(fā)光特性測試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)、光電特性測試、量子產(chǎn)率測量儀、積分球光譜測試儀、發(fā)光特性測量儀、IVLλ、有機(jī)發(fā)光二極管綜合性能測試系統(tǒng)、量子效率測試儀、量子效率測試系統(tǒng)
Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system
▌ 產(chǎn)品簡介
電致發(fā)光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測量。HiYield 系統(tǒng)能夠檢測精度對電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；同時(shí)該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進(jìn)行測試，且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進(jìn)行測試），典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE、壽命測試、CIE、CRI、CCT、光譜響應(yīng)、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強(qiáng)度、峰值波長、FHWM等，廣泛應(yīng)用于各種類型的電致發(fā)光器件測量。
▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)
□ 能夠檢測精度對電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；
□ 集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進(jìn)行測試，且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進(jìn)行測試）；
□ 由軟件控制測試過程，操作便捷，圖表和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示；
□ 可快速、可靠對樣品的測試過程進(jìn)行追蹤；
□ 具有實(shí)時(shí)測量、預(yù)測量、定制測量、掃描測量、時(shí)間依賴測量等豐富的測量模式。
▌ 產(chǎn)品功能
□ 效率參數(shù)：發(fā)光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；
□ 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；
□ 輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等；
□ 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等；
□ 穩(wěn)定性測試。
■ 包含測量模式
√ 電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；
√ 電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；
√ 恒壓單點(diǎn)測量；
√ 恒流單點(diǎn)測量；
√ 穩(wěn)定性測量：不同老化時(shí)間下測量。
▌ 產(chǎn)品應(yīng)用
□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）
□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）
□ 發(fā)光二極管（LED）
□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）
□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件等
▌ 規(guī)格型號
| 電致發(fā)光特性測量系統(tǒng) | ||||
| 系列 | HiYield-EL | |||
| 光譜儀 | ||||
| *光譜范圍 | 210-980nm | 225-1000nm | 350-1050nm | 900-1700nm |
| 探測器 | 制冷CCD | |||
| 系統(tǒng)信噪比 | 1000:1 | |||
| A/D分辨率 | 16/18 bit | |||
| 光學(xué)分辨率 | 0.14-7.7 nm FWHM | |||
| 動態(tài)范圍 | 85000（典型） | |||
| 雜散光 | <0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm | |||
| 源表 | ||||
| 電壓范圍 | -210V~210V | |||
| 電流范圍 | -1.05A~1.05A | |||
| *分辨率 | 1pA / 100nV | 10fA-10nV | ||
| 積分球 | ||||
| *材料 | Spectralon、PTFE、Spectraflect、BaSO4等 | |||
| *內(nèi)徑 | 3.3 / 6 / 10 / 15 inch可選 | |||
| *反射率 | 400至1500 nm，大于99% | ＞97% | @600 nm 97-98% | ＞95% |
| 軟件 | ||||
| 測量模式 | ?電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）； | |||
| ?電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）； | ||||
| ?恒壓單點(diǎn)測量； | ||||
| ?恒流單點(diǎn)測量； | ||||
| ?穩(wěn)定性測量：不同老化時(shí)間下測量。 | ||||
| 功能參數(shù)類別 | ?效率參數(shù)（外量子效率、電流效率、功率效率等）； | |||
| ?電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等； | ||||
| ?輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等； | ||||
| ?色度學(xué)：CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB顏色值等； | ||||
| ?穩(wěn)定性測試。 | ||||
| 測量夾具 | ||||
| *定制夾具 | 根據(jù)客戶樣品封裝設(shè)計(jì)夾具 | |||
*該產(chǎn)品或參數(shù)可根據(jù)客戶需求靈活配置
▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)
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