微觀組合測(cè)試儀：MCT³
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)保科技有限公司
- 品牌 Anton Paar/安東帕
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/6/6 9:34:19
- 訪問次數(shù) 574
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非甲烷總烴在線監(jiān)測(cè)儀，有機(jī)揮發(fā)物氣體監(jiān)測(cè)儀，沼氣檢測(cè)儀，大氣環(huán)境在線檢測(cè)儀，空氣質(zhì)量指數(shù)檢測(cè)儀器，大氣氣象綜合分析系統(tǒng)，林業(yè)大氣環(huán)境檢測(cè)儀，交通環(huán)境大氣污染檢測(cè)，惡臭工作站
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
微觀組合測(cè)試儀：MCT3
適用于儀器壓痕、傳統(tǒng)硬度、劃痕和基本摩擦學(xué)測(cè)試的四合一裝置。
硬度、彈性模量、涂層結(jié)合力、抗劃擦強(qiáng)度、耐磨性和其他表面機(jī)械性能的測(cè)量
用于表征硬質(zhì)涂層、熱/等離子噴涂涂層、膠結(jié)材料、金屬和聚合物
微觀組合測(cè)試儀 (MCT3) 是一款通用測(cè)量頭，可面表征涂層和塊狀樣品的力學(xué)性能。
該儀器載荷范圍大，能夠確定多種樣品的附著力、耐劃擦性、硬度、彈性模量、摩擦和磨損等。它適用于有機(jī)和無機(jī)涂層以及軟硬涂層（1 µm 到 20 µm 之間）也適用于大塊材料。
通過組合該儀器與其他儀器壓痕測(cè)試或劃痕測(cè)試探針，甚至原子力顯微鏡，納入統(tǒng)一的Step 表面測(cè)試平臺(tái)上，擴(kuò)大表征的載荷范圍。
四合一力學(xué)表征
微觀組合測(cè)試儀 MCT3 采用了的機(jī)械設(shè)計(jì)，將四種不同的力學(xué)特性分析測(cè)量方法結(jié)合在同一測(cè)量單元上，而且絲毫不影響測(cè)量質(zhì)量。使用同一個(gè)針尖，您可通進(jìn)行涂層附著力和耐劃擦性（劃痕測(cè)試）硬度和彈性模量（儀器壓痕測(cè)試）維氏硬度（傳統(tǒng)硬度測(cè)試）和摩擦力及磨損（多通道摩擦學(xué)試驗(yàn)）測(cè)試
自動(dòng)的力性能分析測(cè)試儀
和 Anton Paar 的所有劃痕測(cè)試儀一樣，MCT3 可自動(dòng)檢測(cè)臨界載荷。利用摩擦力、穿透深度或聲發(fā)射信號(hào)，及算法分析這些信號(hào)并自動(dòng)確定臨界載荷，使結(jié)果不受任何操作者的影響。該軟件包支持維氏硬度測(cè)試，檢測(cè)壓痕和自動(dòng)測(cè)量。在單次測(cè)量中，通過儀器壓痕技術(shù)還可測(cè)定各個(gè)位置的硬度和彈性模量。
理想的載荷范圍，更廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域
MCT3 可以執(zhí)行從小位移（表面檢測(cè)幾 nm）到大位移（高達(dá) 1 mm）的劃痕和儀器化壓痕 (IIT) 測(cè)試。其施加和測(cè)量 的載荷范圍廣泛（從 10 mN 到 30 N），幾乎適用所有樣品的特性。這種載荷和深度范圍非常適用于硬質(zhì)涂層（1 µm 至 20 µm 的 CVD、PVD）、熱噴涂/等離子噴涂涂層、凝膠材料、金屬和聚合物的力學(xué)性能分析。如果您的標(biāo)準(zhǔn)需要對(duì)大塊材料進(jìn)行傳統(tǒng)硬度測(cè)試，則 MCT3 可在相同的力量范圍內(nèi)提供維氏硬度測(cè)試。
專業(yè)同步全景成像模式
這種專業(yè)的功能可以自動(dòng)將所有傳感器信號(hào)記錄和全景成像的劃痕圖像實(shí)現(xiàn)同步。通過觀察同步的光學(xué)和其他信號(hào)記錄，即可輕松判定臨界載荷。安東帕是美國8261600 和歐洲 EP 2065695 的持有人。
即使在曲面和粗糙表面也可獲得*的結(jié)果
由于采用了專業(yè)的載荷傳感器控制技術(shù)，MCT3nbsp劃痕系統(tǒng)可探知表面形貌的偏差，并且通過主動(dòng)力反饋系統(tǒng)來校正這些偏差。
無論樣品的表面形貌如何，MCT3 都能夠通過控制的所需載荷來跟蹤樣品表面形貌，在粗糙表面和曲面（例如鏡頭）上進(jìn)行非常可靠的測(cè)量。
借助 Step 平臺(tái)，充分發(fā)揮微型組合測(cè)試儀的多功能性
借助Step 平臺(tái)，充分發(fā)揮 MCT3 微型組合測(cè)試儀的多功能性。將其他壓痕或劃痕測(cè)試儀作為 MCT3 針尖的補(bǔ)充，以覆蓋納米/微米/宏觀尺度范圍，或添加 AFM 以通過單一平臺(tái)獲得表面形貌并完成力學(xué)表面表征。
技術(shù)規(guī)格
| 最大載荷 [N] | 30 |
| 載荷分辨率 [μN(yùn)] | 6 |
| 載荷背底噪聲 [rms] [μN(yùn)] | 100 |
| 加載速度 [N/min] | 最高到 300 |
| 深度量程 [μm] | 1000 |
| 深度分辨率 [nm] | 0.03 |
| 深度背底噪聲 [rms] [nm] | 1.5 |
| 數(shù)據(jù)采集頻率 [kHz] | 192 |
| 劃痕速度 [mm/min] | 0.1 至 600 |
| 選件 | |
| 帕爾貼最高加熱到 120 ℃ | ? |
| 加熱臺(tái)的溫度可高達(dá) 200 ℃ | ? |
| 冷卻至 -120 ℃ | ? |
| 液體測(cè)試 | ? |
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