日本toshinkogyo圖像分析位移測量蠕試驗機(jī) 特點(diǎn)介紹

該裝置的測量裝置為非接觸式位移測量裝置，與傳統(tǒng)的光學(xué)或激光束方法不同，由高分辨率CCD相機(jī)直接捕捉被測物體的狀態(tài)變化，

并進(jìn)行高速處理由專用圖像處理計算機(jī)執(zhí)行，是一種位移測量裝置，可以在監(jiān)視器電視上觀察測量狀態(tài)的同時計算位移量并輸出位移量。

該測量裝置可用于多種用途，但它是專門為精密陶瓷等耐熱材料在超過1000℃高溫下的位移測量裝置而開發(fā)的。

1.與傳統(tǒng)的光學(xué)和激光束方法相比，測量精度更高。

2.一臺圖像處理裝置可測量三種位移（拉伸、彎曲、壓縮）。

日本toshinkogyo圖像分析位移測量蠕試驗機(jī) 規(guī)格參數(shù)

●測量方式：非接觸式/圖像分析法

●測量位置：樣品規(guī)之間或目標(biāo)位置

●測量范圍：0~6mm

●地標(biāo)間：10~30mm

●分辨率：1μm

●精度：±5μm

●采樣速度：10次/秒

●顯示方式：用監(jiān)視器進(jìn)行樣品監(jiān)測，數(shù)字顯示測量值

●工作溫度：900℃至2000℃（900℃以下需背光）

●輸出：通訊接口：RS232C

該裝置的測量裝置為非接觸式位移測量裝置，與傳統(tǒng)的光學(xué)或激光束方法不同，由高分辨率CCD相機(jī)直接捕捉被測物體的狀態(tài)變化，

并進(jìn)行高速處理由專用圖像處理計算機(jī)執(zhí)行，是一種位移測量裝置，可以在監(jiān)視器電視上觀察測量狀態(tài)的同時計算位移量并輸出位移量。

該測量裝置可用于多種用途，但它是專門為精密陶瓷等耐熱材料在超過1000℃高溫下的位移測量裝置而開發(fā)的。