HAST環(huán)境模擬老化壽命測試箱
| 參考價 | ￥ 11111 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 成都四洋科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 郫都區(qū)成都現(xiàn)代工業(yè)港北片區(qū)港華路879號
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/3/19 13:30:35
- 訪問次數(shù) 57
高溫模擬加速壽命老化實驗設(shè)備Burn-in system環(huán)境模擬HAST測試工業(yè)用高加速壽命老化試驗箱
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真空泵真空計,膜厚儀,氣體分析,生產(chǎn)工業(yè)冷水機,低溫冷阱,低溫真空干燥機,低溫制冷機,Polycold深冷水汽捕集泵,高低溫循環(huán)沖擊測試系統(tǒng),超低溫冷頭
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
HAST環(huán)境模擬老化壽命測試箱
HAST立式老化測試非飽和老化實驗機主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
HAST環(huán)境模擬老化壽命測試箱
HAST設(shè)備特點
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范；
多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；
穩(wěn)定性更高：內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。
HAST立式老化測試非飽和老化實驗機，用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，
對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗。
應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片。
HAST立式老化測試非飽和老化實驗機，用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，
對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗。
應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片。
HAST立式老化測試非飽和老化實驗機，用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，
對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗。
應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片。
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