Hysitron PI 89 納米壓痕儀
- 公司名稱(chēng) 瑞科和利（北京）科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào) Hysitron PI 89
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/8/9 16:13:35
- 訪問(wèn)次數(shù) 124
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 可實(shí)現(xiàn)位移范圍 | 150umnN,nm:um,nm | 位移分辨率 | 1nmnN,nm:um,nm |
| 儀器種類(lèi) | 納米壓痕儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,生物產(chǎn)業(yè),石油 |
| 有效載荷分辨率 | 10mNnN,nm:um,nm |
納米壓痕儀產(chǎn)品特點(diǎn)
可互換傳感技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了更大范圍(10mNx500 mN、3.5N和150μ.m)的原位納米力學(xué)測(cè)試和微尺度力學(xué)測(cè)試
載荷和位移控制測(cè)試模式,可進(jìn)行納米壓痕、壓縮、 拉伸、疲勞或彎曲測(cè)試
采用全新編碼樣品臺(tái)技術(shù)(1 nm分辨率)，可以在納米晶粒 內(nèi)部進(jìn)行壓痕操作
提供旋轉(zhuǎn)/傾斜臺(tái)兩種配置，從而在進(jìn)行納米力學(xué)測(cè)試、二次電子成像、原位FIB加工和分析成像等操作時(shí)，樣品定位能力進(jìn)一步提高
采用不過(guò)時(shí)的模塊化設(shè)計(jì),原位測(cè)試相關(guān)技術(shù)得以不斷升級(jí)，包括800℃加熱、劃痕測(cè)試、電特性、掃描探針顯微鏡 (SPM)成像、力學(xué)性能成像(XPM)及動(dòng)態(tài)疲勞測(cè)試等技術(shù)
配備PerformechII控制模塊，反饋頻率達(dá)到78 kHz, 數(shù)據(jù)采集頻率達(dá)到39 kHz,可以捕捉斷裂引發(fā)等瞬時(shí)事件
功能齊全
Hysitron PI 89可以輕松安裝到掃描電子顯微鏡臺(tái)上,不需 要一直固定在顯微鏡上。其設(shè)計(jì)小巧，大幅增加物臺(tái)傾斜 度、縮短工作距離,確保測(cè)試期間實(shí)現(xiàn)佳成像。
PI89平臺(tái)經(jīng)過(guò)改裝，在系統(tǒng)的樣品位置增加了一個(gè)滑移臺(tái)。該設(shè)計(jì)可方便快速地調(diào)整樣品相對(duì)于傳感器的位置,并可配置可更換壓頭、樣品和其它附加裝置。
同時(shí)擴(kuò)大了可用空間，可以容納更大的樣品、附加樣品臺(tái)和新的配件。
此外,選用新的直線編碼樣品臺(tái),可以提高自動(dòng)運(yùn)動(dòng)中的 重復(fù)性，同時(shí)擴(kuò)大行程范圍。通過(guò)重新設(shè)計(jì)機(jī)械載荷架軸，提升了框架剛度。
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