原位微分電化學(xué)質(zhì)譜儀資料介紹

原位微分電化學(xué)質(zhì)譜儀是電化學(xué)與質(zhì)譜技術(shù)相結(jié)合而發(fā)展起來的一 種現(xiàn)代電化學(xué)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試手段。DEMS利用疏水透氣膜作為電化學(xué)反 應(yīng)與質(zhì)譜之間的界面，有著優(yōu)異的真空系統(tǒng)能有效縮短收集時(shí)間， 能在電化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物生成后立即進(jìn)行檢測(cè)。 它可現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)電化學(xué)反應(yīng)中的揮發(fā)性氣體產(chǎn)物及動(dòng)力學(xué)參數(shù)，中間 體及其結(jié)構(gòu)的性質(zhì)等；當(dāng)電極反應(yīng)產(chǎn)物為共析出時(shí)，原位微分電化 學(xué)質(zhì)譜儀技術(shù)可同時(shí)確定每種產(chǎn)物的法拉第電流隨電極電位或時(shí)間 的變化。 在電位掃描過程中，將特定物質(zhì)相對(duì)應(yīng)的離子電流與法拉第電極電 流并行記錄，可得到質(zhì)譜伏安圖(MSCV)。

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