SmartScan 350-EMC
- 公司名稱 湖南格雷柏電子科技有限公司
- 品牌 API/Amber Precision Instruments
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/9/23 16:24:19
- 訪問次數(shù) 404
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ES622系列TLP脈沖IV曲線系統(tǒng) ，HBM/MM/Latch-up測(cè)試機(jī)， ESD/CDM/Latch-UP抗靜電能力測(cè)試系統(tǒng)， ES612A 靜電測(cè)試儀(HBM、HMM、MM)， ESD靜電和閂鎖測(cè)試系統(tǒng)， CDM充電器件模型測(cè)試儀， CDM測(cè)試機(jī)， 半導(dǎo)體器件靜電測(cè)試儀， 晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀，EMI近場測(cè)試掃描儀系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|
SmartScan 350-EMC系統(tǒng)包含EMI和ESD掃描功能，其他掃描技術(shù)作為選配提供。
硬件：
硬件通用于API所有XY平面掃描技術(shù)。
API設(shè)計(jì)和制造的硬件部件有：探頭、TLP（傳輸線脈沖發(fā)生器）、Failure Detection Module（FD，自動(dòng)故障檢測(cè)模塊）等。
Items | Descriptions |
尺寸 | 26"x23.6"x30" (66cmX60cmX76cm) |
重量 | 35kg |
主要器件 | 機(jī)械臂和控制器 機(jī)械臂底座–表面陽極電鍍過的鋁合金 掃描板-27"x25"and3/4" （68.6cmX63.5cmX1.9cm）厚的石木板(紙和樹脂，無金屬) 梳妝波發(fā)生器 (10MHz~2.5GHz) 攝像頭和探頭 接觸傳感器 EMI用線纜或ESD用高壓線 探頭: EMI基礎(chǔ)探頭 Hx-2mm (up to 9GHz) Hx-5mm (up to 4GHz) Hz-4mm (up to 4GHz) ESD基礎(chǔ)探頭 Hx-2mm Hx-5mm Hz-8mm Ez-8mm CSP基礎(chǔ)探頭-Hx-2mm 控制電腦 |
EMI僅有的 | RF放大器，安裝支架和直流電源線 |
ESD僅有的 | TLP-+/-200V~+/- 8,000V，< 350pSec rise time 自動(dòng)故障檢測(cè)模塊(自選項(xiàng)) – 4個(gè)模擬、4個(gè)數(shù)字和1個(gè)光學(xué)傳感器信號(hào)監(jiān)控能力 |
機(jī)械臂 | Epson LS3 (或同等級(jí)別) 400mm臂長，四軸SCARA robot (x-、 y- 、z-和z軸旋轉(zhuǎn)) 30um機(jī)械臂準(zhǔn)確性 更長的機(jī)械臂可供選擇(比如550mm) 機(jī)械臂只有極少到無的RF干擾 |
掃描板 | 放置DUT的掃描版由不會(huì)電反射的材料制成（非金屬） |
集成梳妝波發(fā)生器 | 10MHz間隔，最高2.5GHz 用于自動(dòng)電子X-Y偏移校正 時(shí)域相位測(cè)量的系統(tǒng)因子提取源 驗(yàn)證系統(tǒng)的獨(dú)立源 可用作培訓(xùn)的DUT |
集成攝像頭 | 攝像頭 鏡頭 拍攝DUT圖片，自動(dòng)將測(cè)量數(shù)據(jù)疊加在DUT圖片上 在DUT圖片上設(shè)置掃描區(qū)域 |
接觸傳感器 | 測(cè)量探頭著陸位置處DUT或DUT上元件的高度 支持沿DUT元件輪廓的高度進(jìn)行掃描 |
伸縮式的Z方向移動(dòng) | 伸縮式的防撞設(shè)計(jì)，探頭接觸到DUT表面后，機(jī)械手臂僅施加探頭重量 |
RF放大器 (僅EMI) | 易裝易卸的RF放大器支架 兩個(gè)常用RF放大器- ZX60-6013E+ (20MHz~6GHz, 15dB gain at 1GHz)串聯(lián) 可以選配不同放大器（價(jià)格不同）。聯(lián)系我們了解更多信息 |
線纜 | 散發(fā)型 120" coax with SMA and N connectors 16" and 28" coax with SMA at both ends 注入型 120" coax with SMA and SHV connectors 28" coax with SMA at both ends |
用于ESD掃描的設(shè)備
ESD掃描需要兩種特定設(shè)備：TLP（傳輸線脈沖發(fā)生器）和FD模塊（自動(dòng)故障檢測(cè)模塊）
TLP (Transmission Line Pulser) | 輸出電壓（負(fù)載開路時(shí)） +/-200V~+/- 8,000V 獨(dú)立的+ve和-ve電源 波形 快速上升時(shí)間（< 350皮秒）、5納秒穩(wěn)定時(shí)間和慢速下降時(shí)間（>10納秒），以防止故障發(fā)生在上升或下降時(shí) 高壓輸出端 前后側(cè)輸出端口 40dB衰減輸出端口作為CS（current spreading）掃描的觸發(fā)源 模式控制 單次，連發(fā)，遠(yuǎn)程 脈沖率 1~26每秒 |
自動(dòng)故障檢測(cè)模塊 (FD Module) | 信號(hào)監(jiān)控能力 四個(gè)模擬信號(hào) 四個(gè)數(shù)字信號(hào) 兩個(gè)光學(xué)傳感器輸出 信號(hào)采樣率高達(dá)250kHz 兩個(gè)繼電器用于控制DUT電源循環(huán) 腳本定義自動(dòng)故障檢測(cè)、DUT電源循環(huán)、和數(shù)據(jù)記錄 |
軟件
API自行開發(fā)軟件
API開發(fā)的軟件：SmartScan，靈活性高、用戶友好且非?？煽?/p>
多種掃描技術(shù) | 在同一硬件和軟件平臺(tái)上集成多種掃描技術(shù) 抗擾（Immunity）掃描技術(shù)： - Electro-static Discharge (ESD) 靜電放電測(cè)試 - RF immunity (RFI) RF抗擾測(cè)試 - Current spreading scan (CSP) 電流分布測(cè)試 - Resonance scan (RES) 共振測(cè)試 放射（Emission）掃描技術(shù)： - Electro-magnetic Interference (EMI)電磁干擾測(cè)試 - Field calculation場的轉(zhuǎn)換 - Phase measurement (PMS)相位測(cè)量--寬頻，自動(dòng)化的 - NF to FF transformation (NFFF) 近遠(yuǎn)場轉(zhuǎn)換 - Emission Source Microscopy (ESM)放射源顯微鏡術(shù) |
掃描區(qū)域編輯器 Scan area editor (SAE) | 用集成攝像頭拍攝DUT的照片，并將其自動(dòng)導(dǎo)入到SmartScan中以定義掃描區(qū)域 定義掃描區(qū)域方式： 1) 在攝像頭拍攝的DUT照片上方定義 2) 在導(dǎo)入的DUT照片上定義 3) 在導(dǎo)入的layout files (ODB++)上定義 掃描區(qū)域可定義為多種形狀：點(diǎn)、線、矩形等，或沿輪廓?？梢栽谕粋€(gè)項(xiàng)目里定義不同的掃描區(qū)域和掃描高度 可以靈活拖曳掃描區(qū)域 掃描區(qū)域調(diào)整 可以通過抓住角點(diǎn)或整條邊界線對(duì)初定義的掃描區(qū)域進(jìn)行微調(diào) 可以通過剪切某些點(diǎn)或區(qū)域來跳過某些點(diǎn)的掃描 掃描步進(jìn)可由數(shù)列定義或點(diǎn)之間的距離定義 多張照片拼接——當(dāng)DUT太大而無法在一張照片中全部體現(xiàn)時(shí)，軟件會(huì)拍攝多張照片并將它們拼接在一起生成完整的DUT圖片 PCB布局導(dǎo)入——可在導(dǎo)入的PCB layout文件（ODB++）上定義掃描區(qū)域，掃描結(jié)果會(huì)疊加顯示在layout上 |
場分量 | 可選X方向掃描（0°）、Y方向（90°）掃描或兩者都掃 任何用戶定義的角度掃描，比如30°或40° |
儀器設(shè)置 | 儀器（SA，VNA，示波器，信號(hào)發(fā)生器或TLP）的關(guān)鍵參數(shù)都可在SmartScan v5中設(shè)置 也可以直接在儀器上設(shè)置好參數(shù)之后，讓SmartScan讀取 |
掃描設(shè)置導(dǎo)向 | 指導(dǎo)用戶逐步完成掃描設(shè)置，以避免犯錯(cuò)誤或遺漏步驟 除非定義了每個(gè)必要的步驟，否則軟件不允許啟動(dòng)掃描 |
元件庫 | 硬件元件（放大器、線纜、探頭等）的S21數(shù)據(jù)都被儲(chǔ)存在元件庫。這些數(shù)據(jù)可以對(duì)測(cè)量值進(jìn)行損耗或增益校正 可用S21數(shù)據(jù)快速計(jì)算系統(tǒng)因子 每個(gè)探頭的頻率響應(yīng)都儲(chǔ)存在元件庫 |
數(shù)據(jù)處理 (或后處理) | 可對(duì)掃描數(shù)據(jù)使用公式，如三角函數(shù)、指數(shù)函數(shù)、對(duì)數(shù)等常見數(shù)學(xué)公式進(jìn)行運(yùn)算 系統(tǒng)因子用于場的計(jì)算。把儀器測(cè)到的值在電中心高度（in dBm）轉(zhuǎn)換成場值 可合并兩或三個(gè)場分量 原始數(shù)據(jù)以txt格式被導(dǎo)出以進(jìn)行下一步分析 |
數(shù)據(jù)可視化 | 測(cè)量值疊在DUT圖片上 點(diǎn)——每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的顏色根據(jù)測(cè)量值變化 面——在點(diǎn)之間進(jìn)行插值運(yùn)算以顯示測(cè)量值的平滑過渡和分布 3D圖 峰值搜索 追蹤點(diǎn) 透明度調(diào)整，可查看測(cè)量數(shù)據(jù)下方的DUT圖片 |
圖形工具 | 多個(gè)項(xiàng)目的繪圖可以在一個(gè)圖形窗口中顯示 每個(gè)圖可以被分別打開和關(guān)閉 |
SmartScan 350-EMC探頭
API從設(shè)計(jì)、制作以及測(cè)試探頭都在API實(shí)驗(yàn)室完成。
API擁有超過100種不同的探頭設(shè)計(jì)，其中25種探頭作為標(biāo)準(zhǔn)探頭搭配系統(tǒng)使用。
可提供探頭定制服務(wù)，詳情咨詢API。
以下探頭信息主要針對(duì)輻射測(cè)量探頭(EMI 探頭)
場分量 | 探頭測(cè)量所有6個(gè)分量：Hx、Hy、Hz、Ex、Ey和Ez |
頻率范圍 | 覆蓋50kHz到40+GHz 測(cè)量能力可至50kHz以下 |
探頭特性描述 | 探頭的特性測(cè)試在常用的、實(shí)際的掃描條件下進(jìn)行 想測(cè)的場分量和不需要測(cè)的場分量有最少20dB的差別 列出詳細(xì)的特性測(cè)試步驟和測(cè)試條件，以便用戶能重現(xiàn)測(cè)試結(jié)果 完整的探頭特性報(bào)告 對(duì)于某些高頻探頭，小于20dB的差別是可接受的 |
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