LST體微缺陷測試設備
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 上海波銘科學儀器有限公司
- 品牌 波銘科儀
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/11/8 14:52:17
- 訪問次數(shù) 181
產(chǎn)品標簽
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價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
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Capability:
物鏡自動調(diào)節(jié)
納米級移動
對缺陷濃度和尺寸更加靈敏
測試尺寸:20nm到15nm
缺陷濃度:1e5-2.5e10cm–3
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。