Facility abberior超分辨率 高速三維成像顯微鏡
參考價 | ¥ 99 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 北京長恒榮創(chuàng)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Facility
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/30 14:01:58
- 訪問次數(shù) 311
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),制藥 |
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abberior超分辨率 高速三維成像顯微鏡
適用于活細(xì)胞超分辨率的自適應(yīng)STED照明
多種自適應(yīng)照明技術(shù)模塊(RESCue、DyMIN、MINFIELD)
通過智能識別樣品區(qū)域和背景區(qū)域,減少甚至取消STED損耗光的照射,進(jìn)而降低光漂白和光毒性多達(dá)2個數(shù)量級
使用MINFIELD掃描,在活細(xì)胞成像中分辨率可低至20nm配合easy3D,可輕松實現(xiàn)STED三維超分辨成像到75x75x75nm
abberior超分辨率 高速三維成像顯微鏡自適應(yīng)照明
激光只在真正對成像有作用時才照射樣品,幾乎沒有光漂白。
脈沖門控STED
在Facility Line的STED超分辨成像中,激光都是脈沖的,不管是激發(fā)激光,還是損耗激光。相比于傳統(tǒng)的連續(xù)STED,全新的脈沖門控STED可以只用原來1/12的STED損耗光照射,就達(dá)到同樣的分辨率。這是因為傳統(tǒng)的連續(xù)STED,在收集熒光的時間窗口之外,仍在毫無意義地照射樣品。
輕松實現(xiàn)3D STED(easy3D STED模塊)
3DSTED分辨率可達(dá)75x75x75nm;深度可達(dá)80μm
空間光調(diào)制器(SLM)在同一條短程光路上快速調(diào)制XY和Z方向STED成像,無需復(fù)雜低效的拆分和重耦過程,保證超高質(zhì)量的光學(xué)穩(wěn)定
空間光調(diào)制器(SLM)可以靈活分配所需XY和Z方向上的STED量
自適應(yīng)光學(xué)矯正光學(xué)誤差,深層厚樣品中輕松實現(xiàn)超高分辨率成像
匹配油鏡、水鏡和硅油鏡頭
·DyMIN、RESCue適于更長時程或更厚3D樣品的超分辨成像
更清晰的STED和共聚焦圖像
MINFIELD STED
集中在更小的視野(比如200x200nm),用更高功率的STED激光,做更精細(xì)的掃描
分辨率可達(dá)<20nm!
4鏡光束掃描系統(tǒng)
無掃描透鏡設(shè)計,降低光路形變和損耗4鏡獨立可調(diào),保證大視野范圍內(nèi)同等光斑質(zhì)量高精準(zhǔn)線性齒狀掃描方式和高速度正弦掃描方式超高速激光開關(guān)精確控制掃描轉(zhuǎn)換折角激光開關(guān),保護(hù)樣品
彩虹檢測通道
每個APD配有雙漸變?yōu)V鏡可以在400-800nm范圍內(nèi)選擇任意波長成像,檢測帶寬10nm,步進(jìn)1nm高效阻止雜散光、高熒光透過率配合APD檢測器可以獲得高光譜精度和高信噪比的圖像
極其友好的操作,比共聚焦還簡單
EXpertLine 除了可實現(xiàn)Facility Line的全部功能外,還能根據(jù)不同用戶需要定制化各種特殊的軟硬件功能。
正置型的Expert Line easy3D STED顯微鏡
利用lmspector軟件中的easyCommander圖形交互界面方便地為用戶各種特殊復(fù)雜實驗進(jìn)行方便地定制
熒光偏振成像
利用Expert Line開發(fā)了熒光偏振各向異性成像和測量的全電動化升級版
可在Expert Line基礎(chǔ)上整合RESOLFT超高分辨率點掃描系統(tǒng)(可轉(zhuǎn)換綠色熒光蛋白 GFPS)
產(chǎn)品參數(shù)
激發(fā)激光
405(連續(xù))、440、488、516、561、594、640nm,40MHz 皮秒脈沖激光可選
STED 激光
775nm 標(biāo)準(zhǔn)功率型 1-1.25W@40MHz,AOM 調(diào)控;高功率型 2750mW@40MHZ,AOM 調(diào)控,成像分辨率<30nm,最高可以達(dá)到 20nm
595nm功率 400mW@40MHz,AOM 調(diào)控,成像分辨率<40nm
顯微鏡
全電動倒置熒光顯微鏡;6孔電動物鏡轉(zhuǎn)盤;電動聚焦精度10nm;傾角可調(diào)目鏡觀察筒;手動聚光鏡;液晶觸控面板;電動 XY 掃描臺;壓電Z軸掃描器移動范圍 200um,精度 0.7nm;寬場 LED 熒光照明,405nm/470nm/590nm/635nm;寬場1280x9601/2英寸CCD,定制紅外Z軸防漂移裝置,人機(jī)工學(xué)嵌入式主動防震臺
成像和掃描單元
手選物鏡,可選60x水(NA1.2)、100x油(NA1.4)或100x硅油(NA1.3)物鏡,匹配 STED 光斑標(biāo)準(zhǔn)配置2個 APD 檢測器,最多可升級至4個APD 檢測器,每個 APD 配有獨立彩虹光譜檢測套裝保證低損,無背景,可變光譜檢測
的4鏡掃描(QUAD-scanner)光路設(shè)計,任何掃描視野都保持理想激發(fā)和同心圓 STED 光斑
共聚焦部分
脈沖激光結(jié)合高速、高量子效率光子計數(shù)級 APD 成像,門控檢測。16 檔電動針孔轉(zhuǎn)輪
STED 超分辨率部分
像操作共聚焦顯微鏡一樣,單次掃描可以直接呈現(xiàn)清晰的超分辨圖像全自動全光路校正模塊,日常維護(hù),對所有激光共聚焦、STED光路及針孔對中時間<2分鐘Easy3DSTED 模塊通過空間光調(diào)制器(SLM)調(diào)控 2D-3DSTED 光斑分配和質(zhì)量,單光路同軸產(chǎn)生 3DSTED 光斑
2D-STED 分辨率<30x30nm;3D-STED分辨率<100x100x100nm,可達(dá)75x75x75nm
光學(xué)自適應(yīng)部分(AdaptiveOptics)
空間光調(diào)制器(SLM)用于2D-3DSTED光學(xué)誤差校準(zhǔn),DeformableLens用于全系統(tǒng)光學(xué)誤差校正RESCue 智能照射模塊,基于共聚焦預(yù)掃,非樣品區(qū) STED 光照劑量大幅降低,大大降低漂白DyMIN 智能照射模塊,基于 RESCue 信息,產(chǎn)生中間分辨率預(yù)掃,進(jìn)一步減少 STED 的光劑量同時增強信號強度約一個數(shù)量級,同時分辨率可達(dá)25nm(2D)(取決于標(biāo)本和染料)MINFIELD 小視野精細(xì)掃描模式,在 200nmx200nm 范圍內(nèi)分辨率可達(dá)20nm(2D)(取決于標(biāo)本和染料)
STED 用熒光染料
可提供 Abberior STAR 和 LIVE 系列熒光染料,具備高熒光量子產(chǎn)率、高信噪比和抗淬滅性
軟件
極簡化軟件操作,高度自動化的設(shè)置引警使用戶不用操心非必要參數(shù)逐級開放允許高級用戶控制