化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM）>Bruker InSight CAP Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP
Bruker InSight CAP Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP
- 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 Bruker InSight CAP
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/26 14:16:03
- 訪問次數(shù) 102
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 定位檢測噪聲 | 35 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 500萬-1000萬 | 樣品尺寸 | 300*300mm |
| 樣品臺移動范圍 | 300*300mm*mm | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
| 應用領域 | 化工,能源,電子,汽車,電氣 | 粗糙度 | 0.1nm |
Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP
——緊湊型高性能剖面儀和AFM
Bruker的InSight CAP自動原子力輪廓儀是專門為半導體制造商和供應商設計的CMP和蝕刻計量組合平臺。靈活的配置支持從100毫米到300毫米的晶圓尺寸，可實現(xiàn)廣泛終端應用的精確測量。從高生產(chǎn)率的實驗室到全自動化的工廠，InSight CAP profiler可以優(yōu)化配置，以獲得具成本效益的計量解決方案。
·< 0.5 nm長期動態(tài)再現(xiàn)性
用于關鍵工藝決策的直接、穩(wěn)定的在線計量
·亞納米
CMP自動計量的靈敏度，專用碟形和腐蝕計量包，用于 的過程控制和開發(fā)
·<20nm
仿形平面度大于26mm
針對關鍵EUV光刻技術開發(fā)和過程控制的高精度CMP后平面度計量
在線計量結(jié)果以分鐘為單位，適用于蝕刻和CMP的技術開發(fā)和過程控制
在高級技術節(jié)點，多模式光刻技術對CMP提出了納米級的過程控制要求，以滿足聚焦深度需求。InSight CAP圍繞新一代AFM掃描儀構(gòu)建，在65μm X/Y掃描范圍內(nèi)提供改進的平坦度，小于10納米。該系統(tǒng)的NanoScope®V 64位AFM控制器提供了5倍更快的嚙合性能和5倍更快的調(diào)整速度，以提高生產(chǎn)效率，所有這些都提高了可靠性。其DT自適應掃描模式也有助于加快掃描速度和改進計量。InSight CAP高分辨率剖面儀結(jié)合了多項先進功能，可在宏觀凹陷和侵蝕中實現(xiàn)埃級精度測量。
靈活的配置支持從100毫米到300毫米的晶圓尺寸，可實現(xiàn)廣泛終端應用的精確測量。從高生產(chǎn)率的實驗室到全自動化的工廠，InSight CAP profiler可以優(yōu)化配置，以獲得具成本效益的計量解決方案。
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