X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試，利用常規(guī)X光源實現(xiàn)X射線吸收精細結構（XAFS）的光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。該產品目前已被北京大學、北京航空航天大學、天津大學、華北電力大學、青海大學、安徽大學等眾多高校選購，有效助力相關科學研究和應用開拓！

小型化桌面式系統(tǒng)，易于使用：

· 支持近邊快掃功能；

· 支持原位測試等擴展功能；

· 人體工學高度設計，操作更便捷；

· 內置實驗參數(shù)預置，實現(xiàn)快速測量；

· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；

· 遠程數(shù)據(jù)傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；

· 專業(yè)的應用技術支持和數(shù)據(jù)分析支持；

· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯(lián)鎖，保證人身和使用安全。

XAFS專用彎晶：

· 不同晶面配置齊全，實現(xiàn)各個元素覆蓋；

· 預準直安裝，即插即用；

· 可根據(jù)需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試能量掃描機構：

· 聯(lián)動掃描機構；

· 實現(xiàn)光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯(lián)動；

· 精度和分辨率高，穩(wěn)定性好。