布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀
| 參考價(jià) | ￥500000-￥1000000/件 |
- 公司名稱 鉑悅儀器（上海）有限公司
- 品牌Bruker/布魯克
- 型號(hào)
- 所在地上海市
- 廠商性質(zhì)代理商
- 更新時(shí)間2024/11/26 15:13:56
- 訪問(wèn)次數(shù) 17
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鉑悅儀器自2004年成立以來(lái)，憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關(guān)系，以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營(yíng)管理，提高服務(wù)質(zhì)量，成為中國(guó)國(guó)內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè)，產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測(cè)儀器和生產(chǎn)設(shè)備，以及配套的耗材和配件，這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵等各個(gè)領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、及政府部門(mén)等。
鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品，更培養(yǎng)了專業(yè)的銷(xiāo)售、應(yīng)用支持和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)。本著客戶至上的原則，從客戶的實(shí)際需求出發(fā)，鉑悅儀器為客戶提供儀器銷(xiāo)售，安裝培訓(xùn)，應(yīng)用支持，代檢測(cè)服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)等綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù)，由此也獲得了廣大客戶的信任與認(rèn)可。
企業(yè)文化Corporate Culture： CREDIT
C- Confidence: 自信
R- Responsibility: 責(zé)任心
E- Efficiency: 效率
D- Diligence: 勤奮
I- Intelligence: 機(jī)智
T- Trust: 信任
鉑悅儀器持續(xù)為您提供：儀器銷(xiāo)售，安裝培訓(xùn)，應(yīng)用支持，代檢測(cè)服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)。
行業(yè)涵蓋：
工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵
應(yīng)用范圍：
材料成份分析（定性/定量）
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
太陽(yáng)能IV檢測(cè)
產(chǎn)品：
-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級(jí)手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺(tái)式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺(tái)階儀、光學(xué)輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺(tái)式X射線熒光測(cè)厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) （CT ）
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測(cè)儀
巖芯分析儀，微區(qū)X射線熒光光譜儀，直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺(tái)階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀，藝術(shù)與考古分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,綜合 |
BRUKER
布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀
BRUKER布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀 ，適用于納米級(jí)表面測(cè)量、表面形貌分析等多種領(lǐng)域，具有超過(guò)50年的研發(fā)歷程，技術(shù)成熟，性能可靠。
設(shè)備可實(shí)現(xiàn) 4? （0.4nm） 的優(yōu)異重復(fù)性和快速的掃描速度，為微電子技術(shù)、半導(dǎo)體、觸摸屏、太陽(yáng)能、高亮度 LED、醫(yī)療和材料科學(xué)、薄膜與涂層、生命科學(xué)應(yīng)用等行業(yè)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)表面形貌測(cè)量技術(shù)提供支持。
布魯克全新一代的臺(tái)階儀設(shè)備 - Dektak Pro
Dektak Pro™ 以其多功能，使用的便捷性和準(zhǔn)確的精度在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4 ?重復(fù)性的優(yōu)異表現(xiàn)，并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng)，在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。在表面測(cè)量方面，Dektak Pro是微電子技術(shù)、薄膜與涂層和生命科學(xué)應(yīng)用的理想選擇。
強(qiáng)大的性能和重復(fù)性
Dektak Pro以其強(qiáng)大的分辨率、穩(wěn)定性、穩(wěn)健性和耐用性，確保在未來(lái)數(shù)年甚至數(shù)十年內(nèi)提供可靠的優(yōu)質(zhì)結(jié)果。新型號(hào)在Dektak平臺(tái)上繼承創(chuàng)新，提供更高的分辨率、更低的噪聲和更便捷的探針更換，所有這些因素對(duì)于優(yōu)化系統(tǒng)的重復(fù)性和準(zhǔn)確性至關(guān)重要。
在適當(dāng)?shù)沫h(huán)境下，Dektak Pro甚至能夠測(cè)量1納米的臺(tái)階高度，并在1微米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)上實(shí)現(xiàn)優(yōu)于4 ?的重復(fù)性。
性能體現(xiàn)在細(xì)節(jié)之中
Dektak Pro的單拱設(shè)計(jì)有效降低了對(duì)不利環(huán)境條件（如噪聲和震動(dòng)）的敏感性，同時(shí)又可容納大尺寸樣品測(cè)試。新一代的智能電子技術(shù)應(yīng)用更大限度地減少了溫度變化和電子噪聲，從而減少了高精度測(cè)量中的誤差和不確定性。
低慣量傳感器（LIS 3）使系統(tǒng)能夠快速適應(yīng)表面形態(tài)的突然變化，在動(dòng)態(tài)測(cè)量場(chǎng)景中保持準(zhǔn)確性和響應(yīng)性。探頭更換技術(shù)通過(guò)自對(duì)準(zhǔn)探頭夾具，消除了錯(cuò)位和系統(tǒng)重新校準(zhǔn)的需要，輕松完成探頭更換，耗時(shí)不到一分鐘。
快速獲取結(jié)果
Dektak Pro采用直驅(qū)掃描平臺(tái)技術(shù)，這一先進(jìn)的掃描平臺(tái)技術(shù)大大減少了測(cè)量的時(shí)間而不影響分辨率和噪聲底，從而加快了3D形貌或長(zhǎng)輪廓掃描的結(jié)果獲取速度，同時(shí)保持優(yōu)異的數(shù)據(jù)質(zhì)量和重復(fù)性。
Vision64®軟件采用64位并行處理技術(shù)，即使面對(duì)大數(shù)據(jù)也能實(shí)現(xiàn)快速的數(shù)據(jù)處理。此外，自動(dòng)化的多次掃描分析操作簡(jiǎn)化了重復(fù)性任務(wù)，增強(qiáng)了速度和便捷性。
經(jīng)典可靠的臺(tái)階儀 - Dektak XT
布魯克 DektakXT 探針式輪廓儀（臺(tái)階儀）采用了革命性的臺(tái)式設(shè)計(jì)，結(jié)合成熟的技術(shù)和設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了高性能、高易用性以及高性價(jià)比的統(tǒng)一，從研發(fā)到質(zhì)量控制方面都有更好的過(guò)程控制。
設(shè)備特點(diǎn)：
- 強(qiáng)大性能，臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4?
- Single-arch（單拱門(mén)式）設(shè)計(jì)，提供突破性的掃描穩(wěn)定性
- 升級(jí)的“智能電子器件”，提高測(cè)試精度和穩(wěn)定性
- 優(yōu)化的硬件配置，使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短40%
- 64-bit、Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍
- 直觀的Vision64用戶操作界面，使用更簡(jiǎn)單
- 針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)，讓用戶輕松更換針尖探針
- 廣泛的探針型號(hào)
- 單傳感器設(shè)計(jì)
- 確保高通量測(cè)試
探針式輪廓儀系統(tǒng)/臺(tái)階儀系統(tǒng) - Dektak XTL
Dektak XTL 探針式輪廓儀系統(tǒng)（臺(tái)階儀系統(tǒng)）是為大型晶圓和面板制造等應(yīng)用而設(shè)計(jì)的探針式輪廓儀系統(tǒng)，可容納高達(dá) 350mm x 350mm 的樣品，擁有高精度的掃描性能和優(yōu)異的可重復(fù)性和再現(xiàn)性。
設(shè)備采用空氣振動(dòng)隔離和全封閉工作站設(shè)計(jì)，具有易用的聯(lián)鎖門(mén)，可用于苛刻的生產(chǎn)環(huán)境中。雙攝像頭架構(gòu)，可增強(qiáng)空間感知能力。高自動(dòng)化水平可更大限度地提高測(cè)試通量。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
- Dektak系列臺(tái)階儀所具有的強(qiáng)大性能
- 單拱形架構(gòu)、集成振動(dòng)隔離系統(tǒng)和大型聯(lián)鎖門(mén)
- 更大且支持高精度編碼 XY 樣品工作臺(tái)
- 雙攝像頭控制系統(tǒng)
- 方便的分析和數(shù)據(jù)采集
- N-Lite 低作用力，采用軟觸控技術(shù)
- 可靠的自動(dòng)化設(shè)置和操作
- 增強(qiáng)的分析軟件
- 針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)，讓用戶輕松更換針尖探針
- 廣泛的探針型號(hào)
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