C640 質(zhì)子交換膜厚度均勻性測(cè)試儀_薄膜測(cè)厚儀
- 公司名稱(chēng) 濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司
- 品牌 Labthink/蘭光
- 型號(hào) C640
- 產(chǎn)地 濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/13 10:36:32
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 306
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透氣性測(cè)試儀,透濕性測(cè)試儀,摩擦系數(shù)儀,熱封試驗(yàn)儀,密封試驗(yàn)儀,等壓法透氧儀,電子拉力試驗(yàn)機(jī),測(cè)厚儀,瓶蓋扭矩儀,頂空殘氧儀
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,電子/電池 |
質(zhì)子交換膜厚度均勻性測(cè)試儀_薄膜測(cè)厚儀,是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀,專(zhuān)業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量。
質(zhì)子交換膜的厚度直接影響其性能和壽命,因此需要精準(zhǔn)的厚度數(shù)據(jù)作為研發(fā)參考,并確保膜材料具有良好的厚度均勻性。
根據(jù)GB/T 20042.3-2022規(guī)定,厚度均勻性測(cè)試選用具有代表性的、無(wú)折皺、缺陷、破損的樣品制為有效面積至少100cm2的圓形或者方形樣品。利用精度不低于0.1μm的接觸式測(cè)厚儀測(cè)試至少30個(gè)均勻分布點(diǎn)位的厚度值。連續(xù)測(cè)試3片樣品,自動(dòng)測(cè)得樣品的平均厚度值,由此計(jì)算厚度極差、厚度相對(duì)偏差等值,來(lái)表征樣品的厚度均勻性。
需要重點(diǎn)注意的是,質(zhì)子交換膜對(duì)壓力敏感度高,因此標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào),為了避免測(cè)量頭接觸試樣導(dǎo)致試樣變形,測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭施加在樣品表面的強(qiáng)度在0.7 N/cm2 ~2 N/cm2。
質(zhì)子交換膜厚度均勻性測(cè)試儀_薄膜測(cè)厚儀更多更深入的技術(shù)探討,我們(Labthink蘭光)期待與各行業(yè)中的企事業(yè)單位增進(jìn)更多的技術(shù)交流與合作。
測(cè)試原理:將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上,與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國(guó)《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范》(GMP)對(duì)軟件的有關(guān)要求(可選配置)
應(yīng)用材料:
基礎(chǔ)應(yīng)用:
薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測(cè)定
紙——各種紙張、紙板、復(fù)合紙板等的厚度測(cè)定
擴(kuò)展應(yīng)用:
金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測(cè)定
瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測(cè)定
紡織材料——各類(lèi)紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測(cè)定
非織造布——各類(lèi)非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾等的厚度測(cè)定
其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測(cè)定