Helios 5 PFIB DualBeam
- 公司名稱 賽默飛世爾科技（中國）有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/1/20 16:36:06
- 訪問次數(shù) 186
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聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
欲了解更多信息，請瀏覽公司網(wǎng)站：www.thermofisher.com 賽默飛世爾科技中國簡介賽默飛世爾科技進(jìn)入中國發(fā)展已超過35年，在中國的總部設(shè)于上海，并在北京、廣州、香港、成都、沈陽、西安、南京、武漢、昆明等地設(shè)立了分公司，員工人數(shù)約為5000名。我們的產(chǎn)品主要包括分析儀器、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、試劑、耗材和軟件等，提供實(shí)驗(yàn)室綜合解決方案，為各行各業(yè)的客戶服務(wù)。為了滿足中國市場的需求，現(xiàn)有7家工廠分別在上海、北京、蘇州和廣州等地運(yùn)營。我們在全國還設(shè)立了8個應(yīng)用開發(fā)中心以及示范實(shí)驗(yàn)室，將世界級的前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給中國客戶，并提供應(yīng)用開發(fā)與培訓(xùn)等多項(xiàng)服務(wù)；擁位于上海的中國創(chuàng)新中心，擁有有100多位專業(yè)研究人員和工程師及70多項(xiàng)專利。創(chuàng)新中心專注于針對垂直市場的產(chǎn)品研究和開發(fā)，結(jié)合中國市場的需求和國外先進(jìn)技術(shù)，研發(fā)適合中國的技術(shù)和產(chǎn)品；我們擁有遍布全國的維修服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和特別成立的中國技術(shù)培訓(xùn)團(tuán)隊(duì)，在全國有超過2600名專業(yè)人員直接為客戶提供服務(wù)。我們致力于幫助客戶使世界更健康、更清潔、更安全。
欲了解更多信息，請登錄網(wǎng)站：www.thermofisher.com 全國服務(wù)熱線：021-61621892公司電子郵箱：sales.china@thermofisher.com
科學(xué)儀器
用于 TEM 樣品制備（包括 3D 表征、橫截面成像和微加工）的等離子體聚焦離子束掃描電子顯微鏡
Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam（聚焦離子束掃描電子顯微鏡或 FIB-SEM）是具有的功能，專用于材料科學(xué)和半導(dǎo)體應(yīng)用的顯微鏡。材料科學(xué)研究人員可以通過 Helios 5 PFIB DualBeam 實(shí)現(xiàn)大體積 3D 表征、無鎵樣品制備和精確的微加工。半導(dǎo)體設(shè)備、先進(jìn)包裝技術(shù)和顯示設(shè)備的制造商通過 Helios 5 PFIB DualBeam 可實(shí)現(xiàn)無損傷、大面積反處理、快速樣品制備和高保真故障分析。
材料科學(xué)的主要特點(diǎn)
無鎵 STEM 和 TEM 樣品制備
由于新 PFIB 色譜柱可實(shí)現(xiàn) 500 V Xe+ 最終拋光和所有操作條件下的優(yōu)異性能，因此可以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、無鎵 TEM 和 APT 樣品制備。
新一代 2.5 μA Xenon 等離子 FIB 色譜柱
使用新一代 2.5 μA Xenon 等離子 FIB 色譜柱 (PFIB) 實(shí)現(xiàn)高通量和高質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)學(xué)相關(guān) 3D 表征、橫截面成像和微加工。
低能量下具有亞納米性能
憑借具有高電流 UC+ 單色器技術(shù)的 Elstar 電子色譜柱，可以在低能量下實(shí)現(xiàn)亞納米性能，從而顯示最細(xì)致的細(xì)節(jié)信息。
先進(jìn)的功能
通過 FIB/SEM 系統(tǒng)采用選配的 Thermo Scientific MultiChem 或 GIS 氣輸送系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)的電子和離子束誘導(dǎo)沉積及蝕刻功能。
短時間獲得納米級信息
借助 SmartAlign 和 FLASH 技術(shù)，任何經(jīng)驗(yàn)水平的用戶都可以最短時間獲得納米級信息。
先進(jìn)的自動化
使用選配的 AutoTEM 5 軟件最快、地實(shí)現(xiàn)自動化的多點(diǎn)原位和非原位 TEM 樣品制備以及橫截面成像。
多模式亞表面和 3D 信息
使用選配的 Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件，訪問高質(zhì)量、多模式亞表面和 3D 信息并精確定位感興趣區(qū)。
完整的樣品信息
可通過多達(dá)六個集成在色譜柱內(nèi)和透鏡下的集成檢測器獲得清晰、精確且無電荷對比度的最完整的樣品信息。
無偽影成像
無偽影成像基于集成的樣品清潔度管理和專用成像模式，例如 SmartScan™ 和 DCFI 模式。
精確的樣品導(dǎo)航
由于 150 mm 壓電載物臺和選配腔室內(nèi) Nav-Cam 導(dǎo)航具有高穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，可根據(jù)具體應(yīng)用需求定制精確的樣品導(dǎo)航。
材料科學(xué)規(guī)格
| Helios 5 PFIB CXe DualBeam | Helios 5 PFIB UXe DualBeam | |
| 電子光學(xué)系統(tǒng) |
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| 電子束分辨率 |
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| 電子束參數(shù)空間 |
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| 離子光學(xué)系統(tǒng) |
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| 檢測器 |
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| 載物臺和樣品 | 靈活的 5 軸電動平臺：
| 高精度，5 軸電動樣品臺（帶 XYR 軸），壓電驅(qū)動
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