本次開發(fā)的UH4150AD+（Advanced Spec Plus）是在延續(xù)了作為光學(xué)元件的光譜特性檢測設(shè)備UH4150 系列的基礎(chǔ)上，提升了其在近紅外區(qū)域光譜特性測量性能，成為在先端行業(yè)很流行的測量光學(xué)元件的理想設(shè)備。

特點：

  具有紫外可見區(qū)8Abs、近紅外區(qū)7Abs的測光范圍

l  紫外可見區(qū)

紫外可見區(qū)UH4150AD+采用了靈敏度更高的光電倍增管，測光范圍為８Abs。并且可以依據(jù)樣品的光學(xué)特性靈活選擇檢測器的切換波長。

l  近紅外區(qū)

在近紅外區(qū)域安裝了高靈敏度的 InGaAs 探測器。 直射光探測器通過安裝集成放大器的探測器實現(xiàn)低噪聲，并支持近紅外區(qū)域7Abs的測光范圍。

    沿用備受好評的UH4150光學(xué)系統(tǒng)

    在測定固體樣品的正反射時，入射角很重要。對于聚集光束，入射角會隨焦距的變化而變化，從而造成導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜預(yù)測值和實際值產(chǎn)生差異。

    對于平行光束，所有樣品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度測定正反射。另外，平行光束也可用于擴散性評價（霧度）、鏡頭透過率測定。

UH4150AD+增加的使用功能

l  數(shù)據(jù)模式  ：O.D.（Optical Density）展示

l 多掃描：根據(jù)不同的波長范圍可進行掃描速度及減光板的設(shè)置

l  高分辨率測定：增加細(xì)分為4個階段的高分辨率處理

　　　　　　　   （模式1）高分辨、中分辨、標(biāo)準(zhǔn)、低分辨

　　　　   　　　（模式2）ON和OFF (按照之前的處理)

l  減光板：能夠自動插入5種規(guī)格的減光板

l  檢測器校準(zhǔn)：在基線校準(zhǔn)時通過獲取測定波長范圍的0%T，

　　　　　　能夠提高Abs數(shù)據(jù)的精度

l  高吸光度校準(zhǔn)功能：針對測定數(shù)據(jù)波動的校準(zhǔn)功能

  （模式1）負(fù)透過率數(shù)據(jù)校準(zhǔn)

  （模式2）偏移校準(zhǔn)

 多功能掃描提高處理能力

    由于濾光片包含了高透過率和低透過率的波長范圍，使用者一直都是按照低透過率的掃描速度進行全部波長范圍的掃描，所以花費時間較長。現(xiàn)在，通過新的多掃描功能，每次的測定可以根據(jù)不同的波長范圍分別設(shè)定掃描速度等測試條件。之前需要15 min的檢測通過多掃描功能只需要6.5 min就能完成，大大縮減了檢測時間。

    微小樣品透過率測定

    微小樣品透過率測定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過率測定。

    高吸光度溶液測試

高吸光度濾光片測試