集成系統(tǒng) 天恒科儀 晶圓測試系統(tǒng) 半導體封測
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 天恒科儀(蘇州)光電有限技術公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 集成系統(tǒng)
- 產地 蘇州市吳中區(qū)天鵝蕩路
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/4/2 16:37:47
- 訪問次數(shù) 16
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價格區(qū)間 | 30萬-50萬 | 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
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天恒科儀 | 晶圓測試系統(tǒng) |
晶圓探針測試系統(tǒng)(Wafer Probing System),是半導體制造過程中的關鍵設備之一,用于在晶圓切割成單個芯片(Die)之前,對晶圓上的每個芯片進行電性能測試和功能驗證。其核心目標是篩選出合格芯片、定位缺陷并收集數(shù)據(jù),以提升生產良率并降低后續(xù)封裝成本。
核心功能
電性能測試
檢測芯片的電壓、電流、頻率、功耗等參數(shù)是否滿足設計要求。
功能驗證
驗證芯片的邏輯功能、信號處理能力等是否符合預期。
缺陷定位
標記失效芯片的位置,避免后續(xù)封裝環(huán)節(jié)的資源浪費。
數(shù)據(jù)收集與分析
為工藝改進提供數(shù)據(jù)支持,優(yōu)化制造流程。