Epsilon Xline 將我們優(yōu)良的能量色散 XRF (EDXRF)?技術(shù)與在線功能相結(jié)合。這種優(yōu)良的解決方案可在卷對卷 (R2R) 涂層工藝中實(shí)現(xiàn)實(shí)時材料監(jiān)測和過程控制。直接分析可以持續(xù)優(yōu)化材料成分和負(fù)載，有助于最大限度地減少不合格生產(chǎn)并最大限度地提高成本效率。適應(yīng)性強(qiáng)的 Epsilon Xline 可以在各種表面和元素中提供精確和準(zhǔn)確的過程控制。

概覽

無損在線過程控制 – 無需采樣

一系列掃描模式，可持續(xù)適應(yīng)貼片和多通道涂層工藝

通過標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議，可輕松集成到生產(chǎn)過程中

能夠測量所有有價值的重要元素，包括鉑和鈰

能夠以出色的精度測量薄層

適應(yīng)一系列卷筒寬度

特別的機(jī)械臂，可通過將測量頭懸停在生產(chǎn)線上的各個方向來提供優(yōu)良距離控制

面臨燃料電池生產(chǎn)的挑戰(zhàn)

鉑催化劑占燃料電池總成本的 20% 以上，因此通過均勻分散和一致的分層優(yōu)化催化劑涂層至關(guān)重要?？焖?、準(zhǔn)確的工藝監(jiān)測是理想的解決方案！Epsilon Xline 使高效的操作控制變得簡單，幫助您：

最大限度地減少不合格生產(chǎn)

節(jié)省貴重的鉑金，避免浪費(fèi)

生產(chǎn)具有成本競爭力的最終產(chǎn)品

特點(diǎn)

在線全面自動化 。得益于 Epsilon Xline 的無縫集成功能，可享受 R2R 的連續(xù)生產(chǎn)，適用于各種薄膜和涂層應(yīng)用。

簡單且安全 。與手持式或傳統(tǒng)儀器不同，Epsilon Xline 安全且易于使用，并提供高度準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

畢生經(jīng)驗(yàn) 。Epsilon Xline 借鑒 Malvern Panalytical 在元素分析領(lǐng)域長達(dá) 70 多年的 寶貴經(jīng)驗(yàn)，與我們的行業(yè)合作伙伴合作開發(fā)，旨在滿足其當(dāng)前的需求，同時也能共同展望行業(yè)的未來。

最大產(chǎn)量 。通過實(shí)時監(jiān)測和無中斷實(shí)現(xiàn)具有成本競爭力的生產(chǎn)，為您提供所需的直接洞察力和控制力，助力您的運(yùn)營發(fā)揮最大效益。

優(yōu)良材料效率 。消除不一致，避免浪費(fèi)貴重材料，并使用我們的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)解決方案確保產(chǎn)出高質(zhì)量產(chǎn)品。

Epsilon Xline 由客戶開發(fā)和測試，采用高度校準(zhǔn)技術(shù)，可確保穩(wěn)定的分析，以獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。

經(jīng)過驗(yàn)證的技術(shù)

工藝中的元素分析

X 射線熒光  (XRF) 是一種無損元素分析技術(shù)，可在催化膜涂層過程中進(jìn)行在線監(jiān)測，無需采集樣品，不會造成化學(xué)或物理變化。?

由此實(shí)現(xiàn)的實(shí)時在線分析可以快速優(yōu)化許多工藝參數(shù)和產(chǎn)品屬性。

高度可重復(fù)、準(zhǔn)確測量且維護(hù)需求低

Epsilon Xline 和我們的一系列 Epsilon 儀器采用經(jīng)過驗(yàn)證的強(qiáng)大技術(shù)，該技術(shù)由最新的激發(fā)和探測技術(shù)提供支持。設(shè)計精良的光路、適合輕元素和重元素的廣泛激發(fā)功能，加上高靈敏度 SDD 探測器系統(tǒng)，這一切造就了 Epsilon Xline 的強(qiáng)大性能。這些創(chuàng)新共同產(chǎn)生了高度可重復(fù)和準(zhǔn)確的結(jié)果，并且維護(hù)需求低。